Occasion GAERTNER L115 A #938 à vendre en France

GAERTNER L115 A est un ellipsomètre spectroscopique multi-angles automatisé qui peut mesurer les propriétés des matériaux optiques d'une grande variété de matériaux de manière répétable. L'équipement permet une caractérisation puissante, rapide et très précise des couches de couches minces jusqu'à 2 microns d'épaisseur, allant des semi-conducteurs non magnétiques aux matériaux transparents, aux couches diélectriques et organiques, aux matériaux magnétiques et autres structures métalliques en couches minces. Il a la capacité de mesurer rapidement les propriétés optiques de divers matériaux avec jusqu'à quatre angles spectroscopiques à la fois, permettant aux utilisateurs d'avoir accès à plus d'informations et de mieux comprendre la structure de surface de leur échantillon. L115 A utilise le placement, le positionnement et la caractérisation automatisés des échantillons, ce qui rend le processus plus rapide, plus simple et répétable. L'ellipsomètre dispose d'une combinaison de choix automatique de longueurs d'onde et d'angles de balayage laser toujours précis, d'où une précision et une répétabilité sans précédent. En outre, il dispose d'un système de détection homodyne en boucle fermée qui assure une précision accrue ainsi qu'une acquisition et une interprétation rapides des données. Le logiciel d'acquisition de données d'analyse a été spécialement conçu pour permettre aux utilisateurs de recueillir rapidement des données. Il permet également un accès rapide et facile aux résultats pour permettre une évaluation intégrée des résultats de l'ellipsométrie avec d'autres techniques de caractérisation au sein de l'unité de mesure. Ce logiciel est facilement évolutif et permet aux utilisateurs d'inclure des fonctionnalités supplémentaires pour améliorer la connaissance des structures de surface de leur échantillon. En plus des capacités de métrologie sur mesure, GAERTNER L115 A comprend également des fonctionnalités supplémentaires telles qu'un étage de positionnement x-y-z motorisé, un changeur d'échantillon, un microscope à alignement automatique, une machine de navigation automatique d'échantillons, un détecteur de la zone de pression atmosphérique et un moniteur de contamination. La large gamme d'accessoires opérationnels de L115 A, de la mise en place automatique d'échantillons au logiciel convivial d'acquisition de données, font de l'ellipsomètre un outil idéal pour la caractérisation des couches minces et l'analyse des propriétés des matériaux dans des environnements exigeants.