Occasion GAERTNER L115 #131671 à vendre en France

GAERTNER L115 est un instrument optique spécialisé utilisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des nano-structures. Il est généralement utilisé dans les domaines de la fabrication de semi-conducteurs, de la science des matériaux, des nano-structures et des revêtements optiques. Cet ellipsomètre profite de la lumière polarisée pour déterminer les propriétés optiques d'un échantillon. L'instrument dispose d'une plate-forme modulaire, flexible et facile à utiliser. Il est équipé d'un ellipsomètre à fibre optique à 45 ° avec une large plage angulaire de 30-160 ° pour mesurer les propriétés optiques de l'échantillon. Avec l'ellipsomètre, le système est également équipé d'un système automatisé de manipulation d'échantillons, assurant la mobilité et permettant l'échange automatique d'échantillons de différents conteneurs. D'autres composants technologiques du système comprennent un puissant objectif de microscope motorisé pour l'inspection des échantillons et les systèmes de pompage pour le nettoyage sec et humide. L'instrument est capable de mesurer un large éventail de propriétés optiques incluant la biréfringence, l'anisotropie optique, l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'absorption de l'échantillon. La capacité de l'ellipsomètre à mesurer ces propriétés permet une caractérisation complète des couches minces et des nano-structures. En utilisant une plate-forme logicielle avancée, l'instrument offre l'automatisation de toute la procédure de mesure. Cela permet aux utilisateurs d'effectuer leurs mesures rapidement et facilement. En outre, le logiciel fournit une base de données d'échantillons mesurés, assurant la gestion et l'analyse des données. Le logiciel dispose également d'une interface utilisateur graphique (interface graphique) et peut exporter des données dans différents formats. L115 est l'outil parfait pour une variété d'applications scientifiques. Sa plateforme automatisée et ses logiciels polyvalents permettent aux chercheurs de mesurer avec précision et rapidité les propriétés optiques des couches minces et des nano-structures. Sa facilité d'utilisation, sa flexibilité et ses capacités complètes d'analyse des données en font un instrument idéal pour de nombreux domaines de recherche.