Occasion GAERTNER L115 #9144443 à vendre en France

GAERTNER L115 est un ellipsomètre optique de qualité recherche conçu spécifiquement pour la recherche sur les matériaux modernes. Il mesure le changement de l'état de polarisation de la lumière à mesure que la lumière réfléchit à partir des surfaces, et est utilisé pour déterminer l'information sur les propriétés optiques et de surface des matériaux à couches minces. L115 utilise une tête optique constituée de deux filtres d'analyse de polarisation et d'un ensemble « polariseur-analyseur » commandé par ordinateur. Cela rend GAERTNER L115 capable de mesurer avec précision les changements de l'état de polarisation de la lumière lorsqu'il interagit avec un échantillon. Cela permet à l'ellipsomètre de mesurer les propriétés réfléchissantes et transmissives des matériaux sous des angles allant de 8 à 85 °. Le système est également capable de mesurer des échantillons dans divers environnements, y compris l'air ambiant, le vide et le gaz. L115 dispose d'un système automatisé qui peut prendre plusieurs échantillons en succession rapide. Le système peut mesurer des échantillons aussi minces que 0,8nm ou aussi épais que 8mm. En outre, l'instrument est équipé d'un porte-échantillon rétro-mince, conçu pour maintenir les échantillons à plat pendant la mesure. GAERTNER L115 utilise une variété de progiciels pour l'analyse des données, y compris les logiciels de recherche, EXcalibrator et XSpectra. Il est capable de traiter et d'afficher des données historiques et en temps réel à partir de L115, tandis qu'EXcalibrator aide à la préparation des échantillons et fournit des fonctions de mesure de la réflectance et de la transmission. XSpectra est un logiciel complet qui permet aux utilisateurs de modéliser des films de matériaux complexes et d'effectuer des diagnostics optiques. GAERTNER L115 est un ellipsomètre puissant et polyvalent conçu pour la qualité, la précision et la répétabilité. Il offre des mesures précises et fiables pour un large éventail de matériaux, et est un choix idéal pour les chercheurs dans les domaines des sciences de surface, des métaux de transition optique, des semi-conducteurs, de l'optique et de l'analyse des matériaux en couches minces.