Occasion GAERTNER L115 #9176770 à vendre en France

GAERTNER L115 est un ellipsomètre avancé développé par GAE International, l'un des principaux fabricants mondiaux d'ellipsomètres pour une large gamme d'applications. L115 offre des mesures complètes des propriétés optiques des couches minces dans les longueurs d'onde visible et proche infrarouge. Cet ellipsomètre à la pointe de la technologie est équipé d'un grand porte-échantillons pouvant contenir jusqu'à quatre ensembles d'échantillons indépendants et fournit une variété de modes de mesure, y compris des mesures d'ellipsométrie à balayage rapide (RSE) de haute précision à longueur d'onde unique, double longueur d'onde et multi-longueur d'onde. Il est également capable d'acquérir des données d'ellipsométrie à angle d'incidence unique et multiple, à longueur d'onde multiple, typiquement utilisées pour caractériser l'épaisseur du film et les constantes optiques. La conception optique avancée du système permet de caractériser avec précision les films linéaires et non linéaires tels que les films absorbants ou non absorbants. Sa plate-forme logicielle intégrée fournit aux utilisateurs une variété d'outils d'analyse tels que les mesures d'épaisseur de film, l'estimation optique constante, la caractérisation optique de films non linéaires, et l'analyse de réflectance spectrale sans avoir à supporter aucun autre logiciel. GAERTNER L115 est conçu pour fournir des données d'ellipsométrie précises et répétables avec un minimum de brouillage de l'opérateur. Il dispose d'un balayage répété de longueur d'onde pour mesurer l'épaisseur du film, des structures symétriques en rotation et des couches minces à faibles constantes optiques. Il comprend également un dispositif de calorimétrie 4D intégré pour la mesure de l'épaisseur physique et de l'épaisseur optique totale des échantillons de couches minces de niveau pixel. Des outils d'automatisation intégrés, comme la planification des mesures et l'ordonnancement des analyses, peuvent réduire considérablement le temps associé à l'acquisition de données d'ellipsométrie, augmentant considérablement l'efficacité et le débit des instruments. Avec ses fonctionnalités de sécurité des données améliorées, son réglage crypté et sa mémoire réservée, même les données les plus sensibles peuvent être utilisées sans problème. L115 peut facilement manipuler une gamme d'échantillons de couches minces linéaires et non linéaires, ce qui en fait un choix parfait pour les laboratoires universitaires, les installations de recherche, les applications industrielles et de production. Sa taille d'échantillon élargie et ses multiples porte-échantillons rendent les mesures plus rapides que jamais, tandis que sa conception optique optimisée minimise le temps de mesure, permettant des résultats plus précis et plus fiables. GAERTNER L115 est construit avec une technologie de pointe, permettant une caractérisation complète d'une large gamme de propriétés optiques et de surface. Avec ses fonctionnalités avancées, son système logiciel intuitif et sa technologie optique de pointe, cet ellipsomètre est devenu un outil essentiel pour de nombreuses applications industrielles et de recherche.