Occasion GAERTNER L115B #9272576 à vendre en France

GAERTNER L115B Ellipsomètre est un système de mesure optique avancé conçu pour caractériser avec précision les couches minces et les matériaux optiques. Les ellipsomètres sont utilisés pour mesurer des propriétés telles que l'épaisseur, l'indice de réfraction, l'absorption et la rugosité de surface et d'interface. L115B est un ellipsomètre spectroscopique qui utilise une source lumineuse non polarisée, un monochromateur et 2 détecteurs de champ de vision. Les deux angles verticaux et horizontaux créés par la source de lumière et les détecteurs mesurent l'ellipticité et le déphasage de la lumière réfléchie, fournissant une multitude d'informations sur les propriétés optiques d'un échantillon. Le dispositif prend en charge plusieurs accessoires optionnels, tels que divers porte-échantillons, un étage automatisé à haute température, un foyer motorisé commandé par ordinateur et une lampe à arc automatique. GAERTNER L115B est capable de mesurer les propriétés optiques sur une large gamme d'angles allant de 25 ° à 85 °. Cela permet de caractériser avec précision des films très minces, ainsi que des matériaux plus complexes, y compris des films stratifiés et multicouches. Il offre également une haute résolution et une large gamme dynamique, permettant une caractérisation précise des propriétés optiques. Le logiciel qui fonctionne L115B dispose d'un large éventail d'analyses et de capacités de rapport. GAERTNER L115B est un outil puissant pour la collecte d'un large éventail d'informations sur les films et les matériaux optiques, ainsi que pour la caractérisation automatisée des films. Il s'agit d'un choix idéal pour évaluer les rendements de production des appareils, les problèmes de dépannage ou pour effectuer des études approfondies des matériaux. L'appareil est conçu pour être très fiable et facile à utiliser, avec des boutons et des paramètres clairement étiquetés, ainsi qu'un écran vidéo embarqué. Dans l'ensemble, L115B Ellipsomètre est un système de mesure optique précis conçu pour fournir des informations détaillées sur les couches minces et d'autres matériaux optiques. Son large éventail d'angles, sa haute résolution et ses logiciels personnalisables en font un outil idéal pour des applications telles que la caractérisation des films minces et l'évaluation automatisée des films.