Occasion GAERTNER L115C-8 #293663061 à vendre en France

GAERTNER L115C-8 est un ellipsomètre, un instrument de précision utilisé pour analyser les surfaces en couches minces. Ce modèle d'ellipsomètre a été fabriqué par GAERTNER Scientific Corporation, spécialisée dans l'instrumentation scientifique pour la recherche et le développement. Il utilise des analyses mathématiques pour déterminer des paramètres optiques sur des surfaces à couches minces. Cela inclut des paramètres tels que les indices de réfraction, l'épaisseur du film, les constantes optiques et la rugosité de surface. L115C-8 est un instrument de référence entièrement intégré, à la fois souple et puissant. Il se compose d'un système intégré fermé avec des composants optiques, un contrôleur et une interface logicielle. Le système comprend une tête optique avec un polariseur variable, une source lumineuse incidente et un support d'échantillonnage. Il comprend également une alimentation et une unité de détection à angle variable. Le contrôleur avancé comprend quatre axes motorisés, dont deux sont utilisés pour la rotation de l'échantillon. L'interface logicielle est utilisée pour contrôler les instruments et analyser les résultats. GAERTNER L115C-8 est capable de mesurer une large gamme de films, de l'ultra-mince au très réfléchissant. Il dispose d'une large gamme dynamique et d'un étalonnage plus précis, et offre des performances optiques supérieures. Sa série de mesures à angle variable permet à la fois des échantillons polaires et non polaires, la capacité de prendre plusieurs mesures simultanément, et des mesures rapides et précises. Une autre caractéristique de cet instrument est son utilisation de la somme différentielle et des mesures des différences différentielles. Cela permet à l'utilisateur de faire des analyses qualitatives et quantitatives des propriétés optiques de la surface. L115C-8 ellipsomètre est un instrument très fiable et précis, capable de donner des résultats précis et reproductibles. Il est largement utilisé dans les industries semi-conductrices et optiques, ainsi que dans les laboratoires de recherche, pour caractériser les surfaces en couches minces des matériaux. Son efficacité et sa flexibilité en font un outil utile et précieux pour diverses applications.