Occasion GAERTNER L115C-8 #9400516 à vendre en France

GAERTNER L115C-8 Ellipsomètre est un outil très avancé utilisé pour des mesures de surface précises et non invasives. C'est un outil spectroscopique qui mesure le changement de polarisation d'une lumière monochromatique après réflexion à la surface d'un échantillon. Ce changement de polarisation, ou ellipticité, est un moyen fiable de mesurer de très faibles variations d'épaisseur et d'indice de réfraction des matériaux. L115C-8 Ellipsomètre a une conception unique avec un étage d'échantillon pneumatique de grand diamètre, permettant à l'utilisateur de faire tourner l'échantillon à 360 ° sans intervention manuelle. Il est également équipé d'une étape de traduction automatique XY qui permet de mesurer plusieurs échantillons sans repositionnement. Cette étape de traduction est également conçue pour supporter de grands substrats d'échantillons jusqu'à 200mm carrés. GAERTNER L115C-8 Ellipsomètre a un débit optique élevé, ce qui lui permet de mesurer des échantillons avec un contraste et une netteté maximale. Il est également capable de mesurer une large gamme de longueurs d'onde allant du visible au proche infrarouge. En outre, son réseau intégré de capteurs photoniques est conçu pour fournir des données très précises avec un meilleur contraste et un meilleur rapport signal sur bruit. En termes de précision de mesure, L115C-8 est conçu pour faciliter la mesure des échantillons à l'échelle nanométrique. Il est également livré avec une multitude de logiciels, tels que les logiciels d'imagerie transversale, qui peuvent être utilisés pour analyser et visualiser les données acquises. L'ellipsomètre GAERTNER L115C-8 peut être utilisé dans diverses applications de recherche, de développement et commerciales, telles que l'analyse de films ultra-minces, de nanostructures, de matériaux avancés et de leurs structures, de cellules photovoltaïques et de dispositifs semi-conducteurs. Il peut également être utilisé dans des applications avancées de l'ingénierie, telles que la métrologie optique, et les tests de fiabilité au niveau des plaquettes. En outre, la capacité à mesurer l'épaisseur et l'indice de réfraction de petits échantillons avec une précision de niveau nanométrique rend L115C-8 particulièrement adapté à la caractérisation de revêtements optiques et d'autres matériaux optiquement sensibles. GAERTNER L115C-8 Ellipsomètre est un outil polyvalent et précis conçu pour les mesures de surface. Son grand étage d'échantillons, son réseau intégré de capteurs photoniques et sa gamme de logiciels lui permettent de mesurer avec précision les échantillons à l'échelle du nanomètre avec une grande précision et un contraste élevé. Sa variété d'applications dans la recherche, le développement et les essais de produits en font un outil utile pour toute une gamme d'industries.