Occasion GAERTNER L115C #9109132 à vendre en France

GAERTNER L115C est un ellipsomètre avancé conçu pour la recherche et les applications industrielles. L'appareil dispose d'un ellipsomètre à polariseur/analyseur Si optimisé avec une plage de longueur d'onde de 325-2000nm, un fonctionnement à large bande et un pointeur laser. Le système comprend une tête optique réglable rapidement pour commuter rapidement entre différents substrats ou analyser des géométries non standard. Il dispose également d'une marche automatique auto-amenée et d'un logiciel optionnel PNA pour les capacités avancées d'analyse et de rapport. GAERTNER L115 C utilise les composants les plus performants pour des performances supérieures. L'unité dispose d'une plate-forme double rotatrice de précision pour l'éclairage des échantillons et d'une configuration tripolaire standard avec un polariseur/analyseur Si de qualité supérieure comme composant central. Cela permet des mesures d'épaisseur et de constantes optiques rapides et précises sur une large gamme spectrale, avec une grande précision et répétabilité pour des échantillons de 20 à 50nm. L'outil est équipé de caractéristiques de flexibilité qui alimentent ses meilleures performances. Il dispose d'un pointeur laser pour faciliter l'alignement et la reconnaissance des échantillons, ainsi que d'une tête de polariseur/analyseur motorisé à commutation rapide pour le fonctionnement à spectre complet et d'une configuration optique automatiquement la plus adaptée pour différents substrats ou échantillons. Il comprend également un logiciel PCA avec interface graphique très intuitive pour l'analyse des données, le compte rendu et la reproduction des résultats. L 115 C est conçu pour une précision et des performances enviables et est également connecté avec une interaction très faible avec l'opérateur, grâce à la routine de marche intégrée et optique auto-focus. L'actif est conçu pour s'adapter aux environnements de recherche et d'industrie les plus avancés avec sa taille compacte et ses performances. Il permet de mesurer rapidement les propriétés des films sur divers substrats, tels que le verre, le métal, le plastique, etc., même dans les conditions les plus difficiles. La construction de haute qualité et la technologie innovante de L115C garantit des performances exceptionnelles dans les environnements les plus exigeants, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles.