Occasion GAERTNER L115C #9196917 à vendre en France

GAERTNER L115C est un ellipsomètre optique de pointe conçu pour mesurer une large gamme de propriétés optiques, y compris l'épaisseur, l'indice de réfraction et la contrainte des films minces. Il est équipé d'une source lumineuse monochromatrice, d'une large gamme de détecteurs et de polariseurs et d'un support optique de précision avec deux axes manuels. Associé à son fonctionnement intuitif et convivial, GAERTNER L115 C est idéal pour la caractérisation des couches minces et autres matériaux semi-conducteurs. Le monochromateur offre une large gamme spectrale allant de 190nm à 1600nm, permettant la mesure d'échantillons aux propriétés très variables sur tout le spectre. La haute résolution du système assure des mesures précises, même avec des angles très bas supérieurs à 70 degrés. Les détecteurs et polariseurs couplés au monochromateur permettent des mesures sur une large gamme d'angles et de polarisations. Cette flexibilité permet de réduire le temps de mesure et d'assurer la précision de toutes les mesures. Les supports optiques de précision fournissent deux axes manuels qui permettent de configurer les instruments pour différents angles d'échantillonnage et angles d'incidence. Les angles peuvent également être ajustés à la volée pour acquérir des données sur une large gamme d'angles au besoin. La grande stabilité de la monture assure des mesures précises et réduit toute dérive qui se trouverait autrement dans un système manuel. L 115 C offre également une variété d'options pour l'analyse et la déclaration des données. Il est capable de calculer et d'afficher les paramètres ellipsométriques d'un échantillon ainsi que de fournir des informations sur l'épaisseur, l'indice de réfraction et la contrainte du film. Il comprend également des logiciels pour des analyses plus avancées tels que des paramètres de montage. GAERTNER L 115 C est un ellipsomètre avancé conçu pour les études de laboratoire et de niveau de production. Son fonctionnement intuitif et convivial, son large éventail de capacités de collecte de données et sa facilité d'utilisation des fonctions d'analyse et de reporting des données en font l'un des instruments de caractérisation des couches minces les plus avancés. Grâce à sa capacité à mesurer rapidement, facilement et avec précision une variété de propriétés optiques, le L115 C est indispensable pour tout laboratoire de recherche sur les matériaux.