Occasion GAERTNER L115S #9276525 à vendre en France

L'ellipsomètre automatique GAERTNER L115S mesure avec précision les propriétés des couches minces et des substrats dans une large gamme de longueurs d'onde. Il s'agit d'un instrument compact, léger et facile à utiliser, permettant des mesures précises et résolues en angle pour la réflexion et la transmission dans la région proche de l'infrarouge. Il dispose d'un système de détection de pointe pour la collecte de données précises, d'un étage d'échantillonnage motorisé, d'un polariseur intégré et d'un logiciel de pointe qui permet le positionnement et l'alignement des échantillons. Le détecteur pour L115S est un réseau de détecteurs de silicium couplé à des collimateurs physiques qui permettent des mesures d'angle-iesolved avec une précision suprême. La tête de détection est conçue pour offrir des performances exceptionnelles sur une large gamme de longueurs d'onde. Le logiciel permet aux utilisateurs de contrôler facilement la longueur d'onde avec précision, de sorte que les mesures peuvent être prises sur différentes régions pour assurer une caractérisation précise. L'étage d'échantillonnage motorisé assure un positionnement précis de l'échantillon pour l'analyse. De plus, le plateau d'échantillonnage permet le placement commode de plusieurs échantillons. Les optiques sur GAERTNER L115S sont conçues pour des mesures à large spectre résolues en angle. Il dispose d'un polariseur monté sur le dessus et d'un filtre IR, qui aide à analyser le comportement dynamique dans la structure du film. L'étage automatisé d'échantillonnage motorisé permet à l'utilisateur d'ajuster rapidement l'angle de l'échantillon par rapport à la source lumineuse, ce qui le rend idéal pour la caractérisation des couches minces de qualité recherche. L115S offre une gamme de fonctionnalités logicielles avancées. Il fournit une interface graphique intuitive qui permet aux utilisateurs de naviguer facilement et d'analyser les données recueillies à partir d'échantillons. De plus, le système de polarisation intégré permet aux utilisateurs de mesurer les propriétés des films locaux par ellipsométrie spectroscopique. Le logiciel est capable de stocker plusieurs angles, puissance et données de phase sur une variété de types d'échantillons. Il dispose également d'un générateur d'épaisseur de film dépendant de l'angle ou de la longueur d'onde pour étudier les empilements de couches. Dans l'ensemble, GAERTNER L115S est un ellipsomètre extrêmement précis et puissant adapté à la caractérisation des couches minces. Ses fonctions sophistiquées de détecteur, d'optique et de logiciel permettent aux utilisateurs d'acquérir des données précises sur des échantillons avec un excellent rapport signal sur bruit. L'instrument est idéal pour la science des matériaux et les applications optoélectroniques.