Occasion GAERTNER L116 A #54691 à vendre en France

GAERTNER L116 A est un ellipsomètre conçu pour mesurer les propriétés des couches minces, y compris l'indice complexe de réfraction, l'épaisseur de la couche et les constantes optiques. Ce type d'instrument est essentiel pour de nombreuses applications, de la recherche-développement au contrôle des lignes de production. L'instrument utilise une source lumineuse polarisée, qui peut varier en polarisation P et S, pour mesurer les propriétés des couches minces. La lumière polarisée interagit avec le film mince, puis est récupérée via un système de lentilles et divisée en deux faisceaux dans les plans polaire et azimutal. L'ellipsomètre effectue alors une analyse de deuxième ordre des faisceaux réfléchis pour déterminer des propriétés telles que l'indice complexe de réfraction, l'épaisseur de la couche et les constantes optiques. L116 A est robuste et fiable, extrêmement précis et très fiable. Cela en fait un choix parfait pour les applications industrielles. Il a une large gamme spectrale de 250 à 2000 nm avec une résolution de 0,1 nm. Cela permet la mesure précise des couches minces avec la grande précision de l'instrument. L'instrument a une répétabilité élevée de 1 % avec une précision répétable de 0,5 % et une précision robuste de 0,1 %. L'instrument dispose d'un système d'échantillonnage intégré, permettant son utilisation dans les applications des lignes de production. De plus, le rapport signal/bruit élevé permet d'effectuer des mesures précises rapidement et efficacement. L'interface graphique intuitive facilite le fonctionnement de l'instrument, tant pour l'utilisateur débutant que pour l'utilisateur expert. GAERTNER L116 A est un ellipsomètre puissant et fiable, conçu pour la production de films minces et des applications de recherche. Avec sa large gamme spectrale, sa grande précision et sa répétabilité robuste, il est un outil incroyablement précis pour les mesures de couches minces. L'interface graphique sophistiquée vous permet de mesurer rapidement et avec précision les propriétés des couches minces telles que l'indice de réfraction complexe, l'épaisseur des couches et les constantes optiques.