Occasion GAERTNER L116 A #9211689 à vendre en France

Fabricant
GAERTNER
Modèle
L116 A
ID: 9211689
Ellipsometer HP 9826 Computer HP 2671G Printer With computer / Cables & several parts.
Un GAERTNER L116 A (ellipsomètre) est un outil très précis utilisé pour caractériser les propriétés des couches minces et autres matériaux. Il mesure la variation de l'état de polarisation d'un faisceau lumineux, connu sous le nom d' « ellipsométrie ». Toutes les formes d'ellipsométrie sont centrées sur la détermination du rapport des paramètres du film tels que l'indice de réfraction et l'épaisseur optique (c'est-à-dire le produit de l'indice de réfraction et de l'épaisseur). L116 A est en particulier un équipement scientifique unique et complexe construit pour des mesures précises. GAERTNER L116 A se compose de trois composants principaux : un polariseur, un porte-échantillon rotatif et un analyseur. Le premier composant génère un faisceau lumineux polarisé, qui est ensuite dirigé vers l'échantillon. Le deuxième composant fait tourner l'échantillon selon un angle spécifié par l'utilisateur. Enfin, l'analyseur mesure les différences entre les deux états de polarisation avant et après que la lumière ait été incidente sur l'échantillon. En effectuant plusieurs mesures sous différents angles, les paramètres du film peuvent être déterminés avec précision. L116 A offre une large gamme de paramètres réglables, qui lui permettent de mesurer avec précision des films minces et d'autres matériaux stratifiés. Ces paramètres réglables comprennent l'angle d'incidence, la puissance optique, la longueur d'onde de la lumière incidente, et la direction de polarisation. De plus, GAERTNER L116 A peut être utilisé pour mesurer les propriétés de surface et de masse d'un échantillon donné. L116 A offre également plusieurs modes d'analyse pour diverses applications, y compris Thin Film, Multi-Layer, et Absorption Analysis. Pour l'analyse en couches minces, l'instrument mesure et calcule les propriétés d'un échantillon d'une seule couche. Le mode multicouche, par contre, est utilisé pour mesurer et calculer les propriétés (y compris l'épaisseur et l'indice de réfraction) de plusieurs couches de tout matériau. Enfin, le mode Absorption Analysis mesure l'absorption spectrale des substances, ce qui permet aux chercheurs de mieux comprendre leurs propriétés optiques. Pour simplifier encore le fonctionnement, GAERTNER L116 A est équipé d'un logiciel intuitif et facile à utiliser. Ce logiciel permet aux utilisateurs d'établir des mesures rapidement, d'effectuer des analyses et de prendre des mesures correctives. Il dispose également d'une capacité de transfert de données, permettant aux utilisateurs de stocker et de partager leurs résultats avec d'autres. En résumé, L116 A est un instrument spécialisé utilisé pour l'analyse et la caractérisation des couches minces et autres matériaux. Ses caractéristiques complexes et ses paramètres réglables permettent aux utilisateurs de mesurer des paramètres de film précis, et son logiciel intuitif facilite le fonctionnement.
Il n'y a pas encore de critiques