Occasion GAERTNER L116 B #9022059 à vendre en France

GAERTNER L116 B est un ellipsomètre basé sur un schéma d'analyseur de polariseur rotatif. Il utilise un étage rotatif de haute précision, équipé d'un amortisseur linéaire, pour faire tourner un faisceau lumineux polarisé incident sur l'échantillon, tandis qu'un second détecteur mesure son angle de rotation, ou le degré de changement de polarisation. L'avantage de ce modèle est qu'il permet des mesures sur une large gamme spectrale avec une grande précision, et est l'un des modèles les plus populaires dans l'industrie. L116 B utilise la technique de l'analyseur rotatif pour mesurer le degré de changement de polarisation de la lumière résultant de l'interaction de l'échantillon avec le faisceau lumineux polarisé incident. L'angle de rotation du faisceau polarisé est enregistré en fonction de l'angle d'incidence et quantifié en tant que valeur sur l'ellipsomètre dite « valeur Ψ ». Cet angle est calculé en mesurant la différence entre l'angle incident de la polarisée et l'angle détecté de l'échantillon. En plus de la valeur d'angle, GAERTNER L116 B mesure également un paramètre appelé valeur de Δ. Cette valeur est la différence entre les composantes s et p du champ électrique des deux états de polarisation constituant le faisceau incident, et est utilisée en conjonction avec la valeur Ψ pour déterminer plus précisément les propriétés de la surface de l'échantillon. Mesure avec L116 B a la capacité de mesurer des films extrêmement minces jusqu'à 10 nanomètres d'épaisseur, et est adapté à de nombreuses applications telles que le traitement des feuilles d'aluminium, les revêtements, les filtres optiques, les semi-conducteurs, les films minces organiques et les polymères. L'instrument dispose d'une gamme d'optiques, de sources et de détecteurs, conçus pour assurer la plus grande précision dans tout matériau d'échantillon. GAERTNER L116 B est une unité rapide et compacte, avec une interface utilisateur pratique, permettant des opérations rapides et faciles. Il fournit des données précises sur un large éventail d'angles, ce qui est important pour des applications telles que les mesures d'épaisseur de revêtement et les caractérisations de surface. L116 B a été utilisé dans la fabrication de semi-conducteurs, d'éléments optiques et d'autres applications liées à la mesure de couches minces. L'utilisation de son système de polariseurs et d'analyseurs rotatifs permet aux utilisateurs de GAERTNER L116 B de mesurer un large éventail de paramètres optiques avec une grande précision et précision. Dans l'ensemble, L116 B est un excellent choix pour des mesures précises et fiables dans un large éventail d'applications. Sa taille compacte et son interface utilisateur pratique fournissent un instrument facile à utiliser qui offre des résultats précis rapidement et de manière fiable.