Occasion GAERTNER L116 #9004443 à vendre en France

GAERTNER L116 est un ellipsomètre spectroscopique automatisé de pointe conçu pour un large éventail d'applications. L116 offre des mesures précises et répétables de l'épaisseur du film, de l'indice de réfraction et des constantes optiques d'une gamme de matériaux d'une épaisseur comprise entre 5 nm et 4 um. L'équipement se compose d'un spectromètre et d'une monture de haute précision, d'un instrument ellipsométrique, d'un contrôleur, d'un carrousel d'échantillons, d'une interface PC et d'un logiciel. Le système fonctionne sur une plage de longueurs d'onde de 300-1100 nm avec une résolution de 0,2 nm. L'unité permet de mesurer simultanément l'ellipsométrie spectroscopique et la spectroscopie résolue en angle. La plage de mesure est de 0-90 ° avec une précision de 0,01 °. L'ellipsomètre maintient des performances élevées grâce à ses caractéristiques uniques. Un macroboard interne permet la mise en œuvre de procédures spéciales, tandis que l'auto-alignement de chaque échantillon assure des performances stables et des résultats reproductibles et cohérents. Ses détecteurs de réflectance et de transmission servent de base à une mesure précise et complète de toutes les caractéristiques inconnues du film. La machine est capable de mesurer un grand nombre d'échantillons avec le carrousel, selon les exigences d'application. GAERTNER L116 est extrêmement convivial. L'interface comprend des affichages graphiques maniables, un langage de commande simple et un outil Microdeck de télécommande. Il offre également un écran LCD pour la configuration du contrôle de l'appareil, l'épaisseur du film en temps réel, le carrousel automatique et les mesures multiples. De plus, l'actif peut également être connecté à un PC pour le post-traitement des données ellipsométriques. L116 convient à de nombreuses applications de recherche, telles que la caractérisation des propriétés chimiques et physiques des couches minces. Par exemple, on peut mesurer des mesures de constantes optiques, d'épaisseur de film, d'indice de réfraction et de coefficients d'extinction de nombreux films minces déposés sur différents substrats. En outre, GAERTNER L116 peut être appliqué pour le contrôle de qualité des dispositifs semi-conducteurs. Le modèle est utilisé avec succès dans des applications allant du semi-conducteur et microélectronique à des domaines liés à la coatine et à la médecine.