Occasion GAERTNER L116A #293815576 à vendre en France

Fabricant
GAERTNER
Modèle
L116A
ID: 293815576
Chemical Vapor Deposition (CVD) system.
GAERTNER L116A est un ellipsomètre sophistiqué utilisé dans le domaine de la métrologie des couches minces et de la caractérisation des surfaces. L'ellipsomètre est un instrument optique non destructif qui mesure l'évolution de l'état de polarisation de la lumière réfléchie à partir d'une surface d'échantillon pour déterminer ses propriétés optiques telles que l'indice de réfraction, l'épaisseur et la composition du film. L116A ellipsomètre est connu pour sa grande précision, vitesse de mesure rapide et interface conviviale, ce qui en fait un choix populaire pour les chercheurs et les professionnels de l'industrie. L'instrument utilise une conception de compensateur à double rotation pour mesurer l'évolution de l'état de polarisation de la lumière, permettant une acquisition de données précise et fiable. Une des caractéristiques clés de l'ellipsomètre GAERTNER L116A est sa polyvalence de mesure. L'instrument peut être utilisé pour analyser un large éventail de types d'échantillons, y compris des films minces, des structures multicouches et des surfaces structurées. Avec sa taille et sa longueur d'onde réglables, l'ellipsomètre peut accueillir des échantillons de différentes tailles et propriétés optiques, ce qui en fait un outil flexible pour une gamme variée d'applications. L116A ellipsomètre est équipé d'un logiciel d'analyse de données avancé qui permet aux utilisateurs d'interpréter et de visualiser facilement les résultats de mesure. Le logiciel fournit un traitement de données en temps réel, des scripts de mesure personnalisables et des algorithmes automatisés de montage de données pour assurer une analyse précise et efficace des données. Les utilisateurs peuvent générer des représentations graphiques de propriétés optiques telles que l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction, ce qui facilite l'identification des tendances et des anomalies dans les données. En plus de ses capacités de mesure, l'ellipsomètre GAERTNER L116A offre également une gamme d'accessoires et d'options pour améliorer ses performances et sa polyvalence. L'instrument peut être équipé de plusieurs sources lumineuses et détecteurs pour personnaliser l'installation de mesure pour des types d'échantillons et des applications spécifiques. Les accessoires optionnels tels que les microspots optiques, les outils de surveillance in situ et les modules de contrôle environnemental élargissent encore les capacités de l'ellipsomètre pour des projets de recherche et de développement de pointe. L116A ellipsomètre est conçu avec un accent sur la fiabilité et la facilité d'utilisation, avec une construction robuste et une interface utilisateur intuitive. L'instrument est conçu pour résister à des environnements de laboratoire rigoureux et à une utilisation à long terme, assurant des mesures cohérentes et précises dans le temps. L'interface conviviale permet une configuration rapide et efficace des paramètres de mesure, des routines d'étalonnage et de l'acquisition de données, ce qui en fait un outil idéal pour les utilisateurs novices et expérimentés. Dans l'ensemble, l'ellipsomètre GAERTNER L116A est un instrument puissant et polyvalent pour la métrologie des couches minces et la caractérisation des surfaces. Avec sa grande précision, sa vitesse de mesure rapide et ses capacités d'analyse de données avancées, l'ellipsomètre fournit aux chercheurs et aux professionnels de l'industrie un outil précieux pour étudier les propriétés optiques des matériaux et optimiser les processus sur couches minces.
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