Occasion GAERTNER L116D #9048961 à vendre en France

GAERTNER L116D est un ellipsomètre robuste, très précis et fiable conçu pour des applications industrielles. Cet équipement ellipsométrique utilise des instruments avancés basés sur la technologie laser pour mesurer les caractéristiques optiques d'un matériau. Il est utilisé pour caractériser l'épaisseur du film et les propriétés optiques de divers matériaux tels que les matériaux métalliques, semi-conducteurs et doux. Le système comprend deux composants optiques principaux, qui sont une source lumineuse et un détecteur. La source lumineuse surveille l'angle d'incidence de la lumière tandis que le détecteur mesure les valeurs de la lumière réfléchie. En mesurant avec précision les deux angles, l'unité peut calculer les propriétés optiques du matériau testé, telles que son indice de réfraction, son coefficient d'absorption et son épaisseur de film. L116D est équipé de quatre polariseurs et d'un monochromateur commandé par des observateurs. Il est également capable de mesures en temps réel à 1 kHz. Il est évalué pour des températures comprises entre 10 et 40 degrés Celsius et présente une large gamme de vitesses de mesure allant de 0,07 nanomètre à 20 nanomètre. La mesure optique de l'ellipsomètre GAERTNER L116D fournit des données de haute précision qui peuvent être utilisées pour la caractérisation d'épaisseur ou d'indice de réfraction de couches minces ou d'autres couches transparentes ou semi-transparentes sur un substrat. Cette machine est également utilisée pour mesurer des épaisseurs de film dans des zones difficiles d'accès et dans de multiples configurations de substrat. L116D outil est utilisé par de nombreuses industries, y compris dans la recherche et le développement de composants électroniques, de composants automobiles, de systèmes aérospatiaux et de produits de consommation. Il est adapté à de nombreuses applications de recherche et industrielles en raison de sa précision et de sa fiabilité. Cet ellipsomètre est un outil rapide, fiable et facile à utiliser pour la caractérisation optique des couches minces.