Occasion GAERTNER L116D #9176490 à vendre en France

GAERTNER L116D est un ellipsomètre de pointe utilisé pour mesurer les propriétés optiques des couches minces, des substrats et d'autres surfaces. Un ellipsomètre mesure les changements dans l'état de polarisation de la lumière après qu'il se réfléchisse sur une surface d'échantillon. L116D est capable de mesurer l'épaisseur, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction et d'autres propriétés des couches minces. GAERTNER L116D dispose d'une étape motorisée de 1 µm pour positionner précisément l'échantillon en vue de sa caractérisation. Il utilise une source de diode laser monofréquence à 633 nm pour l'éclairage. Il dispose également d'un compensateur biréfringent rotatif pour polariser correctement la lumière. Un détecteur détecte les variations de la lumière réfléchie et est utilisé pour mesurer le degré de polarisation en fonction de l'angle. L116D utilise également des polariseurs commandés par ordinateur pour mesurer l'intensité de la lumière après réflexion de l'échantillon et une caméra pour mesurer les états de polarisation directement à partir du plan image. GAERTNER L116D utilise des techniques d'imagerie sans contact et non destructives pour mesurer les propriétés des couches minces et des substrats. Cela comprend les mesures d'ellipsométrie, l'imagerie polarimétrique (PI) et l'imagerie par réflectométrie (RI). Son ellipsomètre à faisceau unique est optimisé pour des mesures de couches de 200 nm à 12 µm. Ses systèmes PI et RI peuvent mesurer jusqu'à 600 nm de profondeur. Toutes les mesures sont recueillies par l'ordinateur embarqué L116D, ce qui permet une analyse et une intégration faciles avec d'autres plates-formes. GAERTNER L116D peut être utilisé pour mesurer une variété de films et de substrats optiquement minces, y compris des films multicouches, des films métalliques, des films diélectriques et des semi-conducteurs. C'est un équipement fiable avec une excellente sensibilité et répétabilité, et peut être utilisé pour des applications de recherche et de production. Le système est également capable de mesurer des structures complexes qui nécessitent plusieurs faisceaux avec différents angles d'incidence pour déterminer des propriétés comme la biréfringence et le retard. Dans l'ensemble, L116D est un ellipsomètre complet et automatisé capable de mesurer rapidement et avec précision les propriétés optiques des couches minces et d'autres surfaces. C'est une machine fiable et sensible adaptée à de nombreuses applications diverses.