Occasion HORIBA / JOBIN YVON 23300014W #293644233 à vendre en France

Ellipsomètre HORIBA/JOBIN YVON 23300014W est un instrument de précision puissant et précis utilisé pour mesurer les propriétés optiques des échantillons de couches minces. HORIBA 23300014W Ellipsomètre utilise une technique d'ellipsométrie pour mesurer l'état de polarisation et les changements de lumière réfléchis à partir de la surface d'un échantillon, permettant l'analyse des constantes optiques telles que les indices de réfraction et la réflectivité de l'échantillon. L'Ellipsomètre se compose de deux éléments primaires. Le premier est le compteur incident, qui génère de la lumière qui est ensuite polarisée avec un séparateur de faisceau polarisant puis incidente sur l'échantillon. Le deuxième élément est le détecteur-mètre qui mesure l'évolution de la polarisation de la lumière réfléchie. Le détecteur est en outre divisé en un analyseur, qui détecte la direction du plan d'oscillation, et une caméra CCD, qui mesure l'évolution de l'intensité de la lumière réfléchie provenant de l'échantillon. Conformément aux lois de l'optique des ondes, les deux faisceaux polarisés linéairement, l'incident et le réfléchi, sont disposés dans un plan perpendiculaire à la surface de l'échantillon. L'angle entre le faisceau réfléchi et le faisceau incident est appelé l'angle ellipsométrique. La technique de l'ellipsométrie polarisée est alors utilisée pour mesurer le comportement relatif des deux faisceaux, à la fois la direction et la grandeur à des angles incidents différents pour des polarisations lumineuses différentes. L'instrument dispose d'une longueur d'onde de 635nm et d'un champ de vision complet de 3mm, avec une précision de 0,8 arcsec. Le système comprend également une interface logicielle qui permet la capture et l'analyse en temps réel des données tout en contrôlant les réglages de l'instrument en temps réel. JOBIN YVON 23300014W Ellipsomètre est un instrument idéal pour des applications telles que l'analyse d'échantillons de couches minces, la caractérisation des plaquettes semi-conductrices, les dépôts colorants, l'adhésion de surface, la chimie, la science des matériaux et l'ingénierie optique. Cet instrument est conçu pour fournir un niveau élevé de précision, de répétabilité et de fiabilité dans les environnements de laboratoire et industriels.