Occasion HORIBA / JOBIN YVON UVISEL II #293594976 à vendre en France

ID: 293594976
Style Vintage: 2013
Spectroscopic ellipsometer Layer / Stack thickness: <1 nm - 20 µm Optical properties (8) Spot sizes: 34 x 34, 50 x 50, 100 x 100, 200 x 200, 500 x 500, 750 x 750, 12 x 34, 585 x 1710 μm² Spectral range for model VIS: 190 to 1000nm (1.2 - 6.5eV) Spectral resolution: <0.3 nm XYZ Mapping stage, 8" Auto-focus and auto-tilt Auto calibration and auto validation with integrated references Xe pressurized lamp Lifetime: 1500 Hours Dell dual-core-processor, 3.2 GHz 4 GB RAM, 250 GB harddrive 21" Flat-Screen-Monitor Keyboard Mouse Operating system: Windows 7 Pro Power supply: 220 V, 50 Hz, Single phase, 400 W 2013 vintage.
L'ellipsomètre HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II est un instrument optique in situ à haute résolution conçu pour mesurer les caractéristiques optiques et de surface des substrats avec un haut degré de précision. L'instrument utilise une combinaison de technologies d'ellipsométrie spectroscopique modulée en polarisation (PMSE) et de spectroscopie à réflexion intégrée (IRS) pour mesurer le changement de polarisation de la lumière diffusée à la surface d'un matériau en fonction de l'angle incident et de la longueur d'onde. Les informations recueillies à partir de la lumière incidente sont ensuite utilisées pour générer des données de caractérisation de surface telles que l'épaisseur du film, l'indice de réfraction, les constantes optiques et la rugosité de surface. HORIBA/YVON HORIBA UVISEL II utilise deux filtres accordables acousto-optiques et une source de lumière blanche pour l'acquisition rapide de données. Cette combinaison de source lumineuse et de filtre permet des mesures de longueur d'onde et d'angle incident variables qui ne sont pas disponibles avec des spectroscopes ou d'autres méthodes moins avancées. Par exemple, une plage de longueurs d'onde variable entre 200 et 1000 nm permet une caractérisation de surface à haute résolution. La plage d'incidence de l'angle variable de 1 ° à 85 ° permet de modéliser avec précision les angles hors de la normale. L'instrument est équipé d'un étage de rotation motorisé commandé par ordinateur pour assurer la précision. JOBIN YVON/YVON JOBIN YVON UVISEL II comprend également un régulateur de température et une chambre à vide pour étendre les capacités du système lors de la mesure des matériaux sensibles à la température et des échantillons avec un vide turbo-pompé intégré pour les mesures in situ. Cette capacité permet de mesurer des films qui autrement seraient inaccessibles du fait de l'instabilité thermique. HORIBA/JOBIN YVON/YVON UVISEL II utilise un logiciel polyvalent qui a été conçu pour analyser une grande variété de paramètres et de matériaux. Ce système est capable de contrôler les étages motorisés et d'analyser rapidement les données. En outre, il est convivial, permettant une acquisition et une manipulation faciles des données. Le logiciel comprend une bibliothèque de matériaux de référence et fournit des limites de tolérance définies par l'utilisateur comme moyen de détecter les différences entre les propriétés du matériau mesuré et les valeurs attendues. HORIBA/YVON HORIBA/JOBIN YVON UVISEL II est un instrument idéal pour une utilisation dans une variété d'industries, y compris la fabrication de semi-conducteurs, de dispositifs médicaux, de photovoltaïques et de verre. La polyvalence et la grande précision du système le rendent adapté aux applications de recherche et de production. Les grandes capacités de l'instrument, sa faible empreinte et son interface logicielle intuitive en font le choix idéal pour une caractérisation optique et superficielle de précision.
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