Occasion HORIBA / JOBIN YVON UVISEL #149667 à vendre en France

HORIBA/JOBIN YVON UVISEL est un ellipsomètre vectoriel spectroscopique (VSE) de pointe développé pour mesurer des couches minces et d'autres matériaux sur une large gamme spectrale allant de l'ultraviolet à l'infrarouge. L'instrument est conçu pour des mesures non destructives d'épaisseur de couche mince, de constantes optiques, de diffusion et d'uniformité de couche. En mesurant les caractéristiques optiques d'un film mince sur une plage étendue, il permet de déterminer les propriétés des couches d'interface et leur composition. HORIBA UVISEL utilise un polariseur rotatif et un analyseur pour mesurer les variations de l'intensité lumineuse à des longueurs d'onde variables dans la gamme spectrale du dispositif. La polarisation entre la source lumineuse et l'échantillon est modifiée pour mesurer les effets optiques de la surface et des couches interfaciales avant et/ou après leur retour en arrière. C'est un avantage de l'ellipsométrie spectroscopique vectorielle car elle permet une caractérisation en couches minces sans utilisation de préparation d'échantillons complexes. La modulation de la lumière polarisée incidente est effectuée de manière à pouvoir mesurer l'information ellipsométrique spectrale complète de l'échantillon. Les spectres complets peuvent être mesurés dans les régions visible, proche de l'ultraviolet et infrarouge moyen avec une résolution spectrale de 0,5 nm et une dynamique allant jusqu'à six décennies. La résolution angulaire du dispositif est de 0,004 °, ce qui permet de mesurer la plage dynamique avec une meilleure précision. Les principaux composants de JOBIN YVON UVISEL comprennent un étage XYZ, une optique avancée, un réseau de détecteurs, l'acquisition de l'électronique et le contrôle informatique. L'étage XYZ fournit un contrôle de translation tridimensionnel de l'échantillon, tandis que l'optique avancée utilise l'interférométrie laser pour améliorer la précision des taches et la vitesse de balayage. Le système est équipé d'un réseau de détecteurs pour mesurer l'intensité du rayonnement pour chaque longueur d'onde sur la gamme spectrale. Les données sont acquises avec un système d'intégration à grande vitesse, et les résultats sont contrôlés par un ordinateur. UVISEL est l'instrument idéal pour la caractérisation précise des couches minces, de la mesure de l'épaisseur des couches simples des composants électroniques et des métaux à la mesure de l'épaisseur des films des substrats optiques et des composants optoélectroniques. Elle est également utilisée pour les propriétés optiques de couches minces telles que les constantes diélectriques et les coefficients d'absorption, ainsi que les propriétés de matériau anisotrope. Le système est largement utilisé dans les industries où la caractérisation avancée des couches minces est un must, comme la fabrication de semi-conducteurs, d'automobiles et de dispositifs médicaux. Cela fait de HORIBA/JOBIN YVON UVISEL un outil polyvalent pour des applications de recherche généralisées.