Occasion J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 #9301004 à vendre en France

J.A. WOOLLAM AccuMap SE UI-1500 Ellipsomètre est un ellipsomètre spectroscopique de haute précision conçu pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des surfaces. Cet instrument entièrement automatisé combine une ellipsométrie haute résolution avec un positionneur d'échantillons programmable pour des échantillons jusqu'à 200 mm. Il produit des mesures précises et fiables de l'épaisseur du film, des constantes optiques (indice de réfraction et coefficient d'absorption) et de la rugosité de surface d'un large éventail de matériaux. Le UI-1500 dispose d'un équipement de détection spectroscopique hautement sensible avec un large éventail de longueurs d'onde disponibles de l'ultra-violet (UV) à proche infrarouge (NIR). Le système peut mesurer des angles d'incidence (AOI) allant de 0 ° à 85 ° pour des résultats précis et fiables. L'instrument dispose également d'une unité automatisée d'alignement des plaquettes et d'une machine de positionnement des échantillons pour faciliter le chargement des échantillons. L'optique de précision du UI-1500 fournit un excellent rapport signal sur bruit pour une précision exceptionnelle. L'instrument dispose également d'un outil d'acquisition et de traitement de données de haute précision pour une analyse précise et rapide des données. L'actif peut être configuré pour être utilisé dans des configurations tournantes et non tournantes, et peut être utilisé pour diverses applications telles que : Dépôt de film (épaisseur, constantes optiques, etc.) Caractérisation de surface (rugosité, constantes optiques) Essais d'adhérence Paramètres optiques des nanostructures Analyse des contraintes de couches minces. Le UI-1500 est livré avec une variété d'options logicielles et matérielles pour s'assurer qu'il répond aux besoins de diverses applications. Il prend en charge le chargement automatisé des plaquettes et la cartographie des plaquettes pour une analyse rapide et efficace des échantillons, ainsi que l'acquisition de données en temps réel et l'analyse des données pour des résultats rapides. Le UI-1500 dispose également d'une interface utilisateur graphique facile à utiliser pour configurer la résolution et les temps d'exposition. Le UI-1500 est l'instrument parfait pour caractériser les couches minces et les surfaces. Cet ellipsomètre spectroscopique est un choix idéal pour les laboratoires de recherche et développement qui recherchent un moyen précis et fiable de mesurer l'épaisseur des films, les constantes optiques et la rugosité de surface de divers matériaux.