Occasion J.A. WOOLLAM H-VASE #9182681 à vendre en France

J.A. WOOLLAM H-VASE (Horizontal Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer) est un ellipsomètre conçu pour la caractérisation quantitative des films minces et de la télédétection de surface. Il est capable de mesurer les propriétés optiques des surfaces d'échantillons sans utiliser de sondes de contact ou d'autres mesures physiques. H-VASE offre une combinaison unique de haute vitesse, précision et fiabilité pour des applications commerciales, industrielles et scientifiques. Les fonctions de mesure automatisées de l'instrument permettent des mesures répétables du film, avec une grande dynamique pour la détermination précise de l'épaisseur. Il a une approche de mesure configurable pour optimiser la couverture de mesure et capturer les propriétés de couche mince d'intérêt. L'angle d'incidence variable verticalement et horizontalement de J.A. WOOLLAM H-VASE garantit une caractérisation précise des couches minces. L'angle d'incidence variable évite de devoir tenir compte des effets potentiels dus à l'angle d'incidence. L'angle d'incidence variable permet de mesurer des matériaux avec différents coefficients d'indice de réfraction et d'extinction. Les mesures d'ellipticité et de réflexion sont effectuées à l'aide d'une source de lumière blanche, qui fournit une mesure précise du spectre complet de la lumière incidente. Ceci permet de caractériser la réflectance, l'absorption et les constantes optiques en couches minces, y compris la dispersion en longueur d'onde. Le laser élimine le besoin de polariseurs et d'analyseurs encombrants. Des simulations optiques avancées peuvent également être réalisées avec l'ellipsomètre spectroscopique. Le logiciel de simulation optique intégré permet aux utilisateurs de simuler et d'analyser avec précision les propriétés optiques des films minces. Le logiciel permet également l'optimisation itérative des paramètres de processus pour obtenir les meilleurs paramètres optiques pour la caractérisation en couches minces. H-VASE est disponible avec un seul ou plusieurs ponts de mesure. La configuration à un seul étage permet de mesurer jusqu'à trois couches de matériau pelliculaire en une seule mesure. Plusieurs ponts de mesure peuvent accueillir jusqu'à sept couches de matériaux de film. J.A. WOOLLAM H-VASE dispose également d'un emplacement d'échantillon à angle variable, permettant des mesures sur une grande variété de films sur un seul substrat. Le placement de l'échantillon à angle variable élimine la nécessité d'utiliser un échantillon témoin pour tenir compte des effets de l'angle d'incidence. Le placement d'angle variable élimine également la nécessité d'étapes de mesure multiples pour des films d'épaisseur différente. En résumé, H-VASE est un ellipsomètre spectroscopique conçu pour fournir une caractérisation précise et répétable des couches minces. L'instrument offre des mesures d'incidence à angle variable, des simulations optiques avancées et la capacité de mesurer jusqu'à sept couches de matériaux de film. Cela fait de J.A. WOOLLAM H-VASE un outil idéal pour les applications commerciales, industrielles et scientifiques de caractérisation cinématographique.