Occasion J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II #293815174 à vendre en France

J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II est un ellipsomètre sophistiqué équipé de capacités spectroscopiques infrarouges, conçu pour une caractérisation précise et précise des couches minces dans la gamme spectrale infrarouge. L'ellipsométrie est une technique optique couramment utilisée pour déterminer l'épaisseur, l'indice de réfraction et d'autres propriétés optiques des couches minces en analysant les changements de l'état de polarisation lors de la réflexion ou de la transmission à travers le système film-substrat. IR-VASE Mark II permet aux chercheurs et aux ingénieurs d'effectuer des analyses non destructives d'un large éventail de matériaux, y compris des semi-conducteurs, des diélectriques, des polymères et des échantillons biologiques. L'une des caractéristiques clés de J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II est sa capacité à mesurer les propriétés optiques dans la région infrarouge du spectre électromagnétique, allant typiquement d'environ 2,5 μ m à 25 μ m (4000 cm-1 à 400 cm-1). Cette gamme spectrale étendue permet de caractériser des matériaux avec des caractéristiques d'absorption IR uniques, ce qui peut fournir des informations précieuses sur la composition chimique, la structure moléculaire et les configurations de liaison. En combinant les techniques de spectroscopie ellipsométrique et infrarouge, IR-VASE Mark II offre une approche globale de l'analyse des couches minces particulièrement bénéfique pour les applications de recherche en sciences des matériaux, en physique, en chimie et en ingénierie. L'instrument utilise une configuration ellipsométrique à compensation tournante, où l'état de polarisation de la lumière est modulé et analysé pour extraire des paramètres optiques tels que l'indice de réfraction complexe, les épaisseurs de couche et la rugosité de surface. J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II est équipé d'optiques, de détecteurs et d'algorithmes logiciels de pointe pour garantir une sensibilité, une précision et une répétabilité élevées. Il peut accueillir divers types d'échantillons, géométries et températures, ce qui le rend polyvalent pour un large éventail de configurations expérimentales et de conditions de mesure. IR-VASE Mark II offre plusieurs modes de mesure, y compris l'ellipsométrie de réflexion et de transmission, ainsi que l'ellipsométrie spectroscopique infrarouge. Les mesures de réflexion sont effectuées en dirigeant un faisceau de lumière polarisée sur la surface de l'échantillon à un angle d'incidence déterminé et en détectant la lumière réfléchie. Les mesures de transmission impliquent le passage de la lumière à travers l'échantillon et la détection de la lumière transmise. L'ellipsométrie spectroscopique infrarouge combine ces techniques avec des sources lumineuses et des détecteurs IR pour permettre une analyse détaillée des vibrations moléculaires et des absorptions dans l'échantillon. L'instrument est contrôlé par un logiciel convivial qui permet une configuration facile, l'acquisition de données et l'analyse des mesures ellipsométriques et spectroscopiques. Le logiciel fournit des outils de modélisation personnalisables pour adapter des données expérimentales à des modèles théoriques basés sur des constantes optiques, des structures de couches et des propriétés d'échantillons. Ces capacités de modélisation permettent aux chercheurs d'extraire des informations précieuses sur la composition, l'épaisseur et le comportement optique des couches minces, ainsi que de surveiller les changements en temps réel au cours de processus tels que la croissance des couches minces, le dépôt ou la gravure. En résumé, J.A. WOOLLAM IR-VASE Mark II ellipsomètre est un outil puissant pour caractériser les couches minces dans le domaine spectral infrarouge, offrant des capacités de mesure avancées, une analyse précise des données, et des options expérimentales polyvalentes pour la recherche et le développement dans divers domaines de la science et de la technologie. Sa combinaison de techniques ellipsométriques et spectroscopiques fournit aux chercheurs une compréhension complète des propriétés optiques, des structures moléculaires et des compositions chimiques dans les matériaux à couches minces, ouvrant la voie à de nouvelles découvertes et progrès en science et en génie des matériaux.