Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #293585945 à vendre en France

Le J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000 est un ellipsomètre conçu pour mesurer l'épaisseur du film, la réfraction et les indices d'absorption d'un échantillon de matériau. Il fournit des mesures précises et robustes en évaluant les changements dans l'état de polarisation de la lumière provoqués par la réflexion de la surface supérieure d'un échantillon de couche mince. Il fonctionne selon le principe de l'ellipsométrie, selon lequel le rapport de la lumière réfléchie est mesuré sous différents angles. Cet ellipsomètre a été conçu par J.A. Woo llam et est reconnu pour sa précision et ses résultats fiables. M-2000 consiste en un étage d'échantillonnage plan éclairé au laser, très réfléchissant, et un étage de détection de lumière qui sont reliés par un séparateur de faisceau. Un laser à faible cohérence hélium-néon (He-Ne) est utilisé pour fournir une source lumineuse monochromatique et incohérente contrôlée. Cette source lumineuse est dirigée vers l'échantillon et la lumière est réfléchie, produisant les signaux ellipsométriques. Les signaux ellipsométriques sont détectés avec un mécanisme de polarisation et interprétés en utilisant un processeur et une interface utilisateur graphique ergonomique. J.A. WOOLLAM M-2000 est conçu pour couvrir une large gamme de films comprenant des films monocouches ainsi que des films multicouches. L'angle d'incidence du faisceau laser est variable, ce qui permet un large éventail d'études telles que la spectroscopie en temps réel et la cartographie de profil, qui peuvent être utilisées pour obtenir des informations telles que l'épaisseur du film, les indices de réfraction et d'absorption. En outre, M-2000 est équipé d'un matériel informatique et d'un logiciel qui permet une analyse facile des données et la recherche de données. En raison de sa conception sophistiquée et de ses progrès technologiques, le J.A. Woo llam J.A. WOOLLAM M-2000 est considéré comme un outil efficace pour la recherche et l'industrie dans les industries des semi-conducteurs et des revêtements optiques, permettant aux utilisateurs d'acquérir une connaissance précieuse des propriétés physiques de leurs échantillons de matériaux. Il offre un haut degré de précision et de fiabilité et est simple à utiliser.