Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #293631836 à vendre en France

J.A. WOOLLAM M-2000 Ellipsomètre est un instrument optique utilisé pour la caractérisation des couches minces et le contrôle des processus. M-2000 est équipé d'un laser hélium-néon qui émet de la lumière dans le spectre visible (longueur d'onde 632,8 nm), qui est polarisé avant l'impact de la surface de l'échantillon. La polarisation de la lumière est alors modifiée par des éléments optiques dans le trajet lumineux, qui interagissent avec des couches minces déjà présentes sur la surface de l'échantillon. La détection de ces changements dans l'état de polarisation de la lumière est facilitée par deux détecteurs de grande sensibilité à grande dynamique placés avant et après l'échantillon. La technologie unique d'analyseur rotatif breveté J.A. WOOLLAM M-2000 élimine les composants de signal indésirables causés par la biréfringence des échantillons, permettant ainsi une précision et une répétabilité sans précédent dans les mesures de films de moins de quelques centaines de nanomètres d'épaisseur. L'utilisation d'un faisceau incident incliné réduit également de façon spectaculaire les erreurs de conception, offrant un avantage critique aux utilisateurs dans des environnements à haut débit. La résolution temporelle de M-2000 est également remarquable, avec une réponse maximale du système d'une milliseconde qui permet une surveillance ultra rapide des films en évolution rapide sur toute la surface de l'échantillon. Le signal mesuré peut être déconvolué dans ses composants en couches minces à l'aide du progiciel inclus (J.A.W. ThinCentreLab), qui contient une base de données de modèles et une interface avec les routines d'optimisation mondiales récemment publiées (comme l'algorithme de Levenberg-Marquardt). Cela permet le montage simultané de plusieurs couches, ainsi que la détermination de l'épaisseur et des constantes optiques de films minces arbitraires avec une précision incroyable. En outre, pour les utilisateurs qui nécessitent un contrôle supplémentaire, le progiciel peut être personnalisé pour s'adapter à tout modèle désiré. Pour les applications portables, J.A. WOOLLAM M-2000 est disponible avec un étage XY intégré avec positionnement motorisé, permettant des mesures automatisées sur de grandes tailles d'échantillons. L'instrument est également incroyablement facile à utiliser, avec une interface utilisateur graphique simple qui garantit une collecte de données rapide et optimale. Sa conception compacte, sa faible consommation d'énergie et sa capacité à manipuler même les échantillons les plus complexes en font un outil inestimable pour tout laboratoire impliqué dans la recherche sur les films minces.