Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #9225248 à vendre en France

J.A. WOOLLAM M-2000 est un ellipsomètre avancé utilisé pour mesurer l'épaisseur des couches minces transparentes. L'ellipsomètre possède deux systèmes indépendants d'ellipsomètres spectroscopiques à angle variable (VASE), chacun ayant la capacité de mesurer un large éventail de matériaux, dont des métaux, des oxydes, des semi-conducteurs et des polymères. M-2000 a la capacité de mesurer même sur des échantillons difficiles comprenant des couches simples, des couches multiples, des couches d'épaisseur étagée et des couches à indices de réfraction variables. Il peut également mesurer des échantillons avec un indice de réfraction différent du fond, tels que des échantillons de contraste à haut indice. J.A. WOOLLAM M-2000 offre une précision et une répétabilité supérieures dans la mesure de l'épaisseur du film. Il dispose d'un détecteur CCD haute performance, ainsi que d'un contrôle très uniforme de la polarisation lumineuse incidente avec un temps de lecture rapide du détecteur. L'angle incident est également programmable de 5 ° à 85 °. M-2000 est équipé d'un logiciel d'analyse puissant qui fournit une analyse statistique poussée des données. Le logiciel stocke et gère également les données d'un nombre illimité de mesures ainsi que les résultats précédents pour une comparaison facile. J.A. WOOLLAM M-2000 offre une plus grande flexibilité pour mesurer et analyser plusieurs couches d'un échantillon avec son installation d'ellipsométrie haute résolution (HRE). Il est très polyvalent et peut traiter des applications dans la plupart des laboratoires de recherche et de R&D industrielle. La température de l'échantillon peut être contrôlée pendant les mesures, et la contrainte et la contrainte sont mesurées avec précision. M-2000 est également équipé du mode LCD linéaire pour mesurer des échantillons de film plat afin de gagner du temps sur des mesures plus longues. J.A. WOOLLAM M-2000 est facile à utiliser et nécessite une formation minimale de l'opérateur. Il est bien adapté à la recherche sur les matériaux, y compris la caractérisation des couches minces et l'étude des procédés de dépôt dans les semi-conducteurs, les revêtements et l'optique. Il est également largement utilisé dans les domaines de la biochimie, des matériaux semi-conducteurs et de la synthèse de couches minces.