Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #9249787 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9249787
Style Vintage: 2010
Spectroscopic ellipsometer
With EC-400 controller
M-2000X Lamp controller, model DET-100
Unit source: FLS-300 75W Xe Arclight source
Detection unit: MQD Single
Stage: 8-1/2"
Automated mapping part
Spectral range: 245-1000nm
470 Wavelengths
Automated angle base
Focusing option
Spot size: 500um
Includes:
(2) Focusing probes
Additional stage
Computer
Monitor
Cable
Vacuum pump (Small)
Does not include NIR
2010 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000 est un outil de mesure optique polyvalent utilisé pour mesurer l'épaisseur et les paramètres optiques des couches minces sur un large éventail de matériaux. Il fonctionne en éclairant un échantillon avec un faisceau lumineux polarisé, en détectant la réflexion résultante et en analysant le résultat avec un logiciel sophistiqué pour déterminer les propriétés optiques de l'échantillon. En mesurant les différences entre l'intensité de la lumière réfléchie de l'échantillon à différents angles et longueurs d'onde, M-2000 peut mesurer avec précision l'épaisseur d'un film ou d'un revêtement jusqu'à des niveaux atomiques. En plus de mesurer l'épaisseur du film, J.A. WOOLLAM M-2000 peut également être utilisé pour mesurer l'indice de réfraction, la transmission optique, l'absorbance, le coefficient d'extinction et le coefficient d'absorption de l'échantillon. M-2000 est un outil optique multi-paramètres, ce qui signifie qu'il peut mesurer plusieurs caractéristiques à partir d'un même échantillon sans avoir besoin d'un post-traitement complexe et long. Il offre une large gamme de tailles de porte-échantillons et peut accueillir des échantillons de 200mm de diamètre jusqu'à 4,6mm de diamètre. De plus, sa fonction d'étalonnage automatique permet une configuration facile et assure la répétabilité des mesures. Équipé d'une caméra CCD, J.A. WOOLLAM M-2000 offre un haut niveau de résolution spectrale et permet de caractériser les échantillons dans les domaines proche infrarouge et visible. Il dispose également de contrôles de température et de vibrations externes, contribuant à minimiser les erreurs potentielles et à garantir des résultats fiables. M-2000 offre également une plus grande flexibilité et des fonctionnalités étendues lorsqu'il est contrôlé par un ordinateur, directement ou à distance. Dans l'ensemble, J.A. WOOLLAM M-2000 est une solution efficace et fiable pour la caractérisation optique et la mesure des couches minces et des matériaux. Il utilise une technologie optique et logicielle sophistiquée pour mesurer avec précision les propriétés optiques des échantillons rapidement et facilement, ce qui en fait un outil idéal pour une grande variété d'industries.
Il n'y a pas encore de critiques