Occasion J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200 à vendre en France

L'ellipsomètre J.A. WOOLLAM M-2000 est un dispositif qui utilise la lumière polarisée pour mesurer l'évolution de l'épaisseur d'un matériau d'échantillon analysé. La mesure se fait en clignotant d'abord une lumière d'une fréquence spécifique sur une surface de matériau échantillon avant de mesurer la rotation de la lumière réfléchie résultante. L'échantillon est placé sur le dessus d'un disque d'échantillon enfermé dans une chambre UHV, permettant de mesurer avec précision les mesures dans un environnement sous vide. Le disque d'échantillonnage monté sur une plate-forme tournante, permettant d'utiliser différents angles d'incidence et de polarisation pour différentes mesures. La source lumineuse de M-2000 est un laser ArF * de 147,5 nm avec une longueur de faisceau de 2,0 cm et une intensité de faisceau de 10 nanoWatts/cm2. Il est équipé d'un détecteur CCD qui est utilisé pour surveiller la polarisation des échantillons et évaluer la biréfringence du matériau. Il comporte également une ligne laser et un interféromètre laser qui permet de mesurer l'évolution de la polarisation du faisceau par rapport à l'échantillon. Le système dispose également d'un processeur interne qui traite les données mesurées et fournit des résultats en temps réel. Il peut également stocker jusqu'à 5000 courbes pour des comparaisons. En outre, le système est également capable de stratégies d'acquisition et d'analyse de données à long terme, donnant aux utilisateurs un aperçu de l'évolution de leur film au fil du temps. Le J.A. Wooellam J.A. WOOLLAM M-2000 est un outil efficace pour mesurer les changements dans l'épaisseur des matériaux de l'échantillon, en raison de sa capacité à mesurer les changements dans la polarisation sous différents angles d'incidence. En outre, le processeur interne permet l'analyse des données et la possibilité de stocker des courbes, ce qui en fait un outil utile pour la recherche et le contrôle de la qualité. De plus, sa capacité à mesurer la biréfringence et son environnement sous vide en font un outil idéal pour des applications spécialisées, comme dans le domaine de l'optique.