Occasion J.A. WOOLLAM M-2000UI #9268961 à vendre en France

J.A. WOOLLAM M-2000UI est un ellipsomètre informatisé conçu pour mesurer les propriétés optiques des matériaux. Il est capable de mesurer les constantes optiques, l'épaisseur et les indices de réfraction des matériaux à couches minces avec une grande précision et précision. M-2000UI dispose d'un large éventail de capacités, ce qui en fait un outil précieux dans la recherche et la production de matériaux. J.A. WOOLLAM M-2000UI est capable de mesurer des épaisseurs de couches minces allant de 0,2 nm à 3 µm. Elle est renforcée par l'ajout d'un système d'imagerie qui permet une meilleure représentation visuelle des caractéristiques du film. Les mesures sont effectuées sur une gamme de matériaux utilisant une variété de sources lumineuses, y compris la lumière polarisée, non polarisée et monochromatique. Le logiciel utilisé pour fonctionner M-2000UI est conçu pour être convivial, et il peut être utilisé pour générer les résultats de mesure rapidement et de manière fiable. Il permet également aux utilisateurs d'évaluer les propriétés du film à travers une variété de méthodes, y compris des analyses multicomposantes, des ajustements ellipsométriques et une colonne de montage intégrée qui peut donner des résultats cohérents. J.A. WOOLLAM M-2000UI comprend également une fonction de régulation de température avancée qui permettra de surveiller et de réguler les températures dans la plage de précision de 0,01 ° C Cette fonctionnalité est idéale pour garantir des résultats cohérents sur une variété de matériaux, tout en fournissant un processus plus efficace. M-2000UI dispose également d'un système de contrôle actif des vibrations, permettant de mesurer des échantillons sensibles aux vibrations. Avec cette fonctionnalité, J.A. WOOLLAM M-2000UI offre de grandes performances pour mesurer les matériaux en mouvement. M-2000UI est un atout important pour la recherche et la production de matériaux. Avec sa gamme de capacités, il peut mesurer les constantes optiques, l'épaisseur et les indices de réfraction des matériaux à couches minces avec une grande précision et précision. Son logiciel convivial et sa fonction de contrôle de la température garantissent des résultats cohérents, tandis que son système de contrôle actif des vibrations garantit la stabilité pendant la mesure.