Occasion J.A. WOOLLAM M-2000UI #9277548 à vendre en France

J.A. WOOLLAM M-2000UI est un ellipsomètre avancé qui a été développé pour mesurer avec précision les propriétés optiques des couches minces. M-2000UI fournit des données précises sur les indices de réfraction, l'épaisseur de la couche, les coefficients d'absorption et l'orientation cristalline à différentes profondeurs et angles. Cela aide à identifier les propriétés physiques des matériaux, tels que les semi-conducteurs, les polymères, les revêtements et les couches minces. J.A. WOOLLAM M-2000UI est constitué d'un dispositif de polarisation, d'une paire de plaques atténuantes, d'un détecteur de silicium et d'un étage optique. La longueur d'onde peut varier de 253,6 à 700 nanomètres, selon le matériau mesuré. La lumière est polarisée puis divisée en deux composants polarisés plans, qui analysent avec succès les propriétés optiques des couches. Les données sont ensuite enregistrées et analysées pour déterminer l'information sur le matériel de l'échantillon. M-2000UI comporte également une unité intégrée comprenant un réflectomètre, un microscope optique et une alimentation réglable pour régler le niveau d'éclairage. Cette unité intégrée permet aux utilisateurs d'avoir accès à une variété de techniques de mesure, fournissant des informations approfondies sur les propriétés optiques de divers échantillons. J.A. WOOLLAM M-2000UI est une machine fiable et conviviale aux performances exceptionnelles. Il est facile à utiliser et permet un traitement rapide et précis des données. M-2000UI est adapté à diverses applications, y compris la diffusion de la lumière et la croissance de couches minces, la caractérisation optique, le diagnostic des semi-conducteurs, les revêtements optiques multicouches, les dispositifs optoélectroniques, les micro-ondes, les télécommunications mobiles, les écrans optiques, la caractérisation des capteurs chimiques et la recherche de matériaux optiques. Pour améliorer les performances de J.A. WOOLLAM M-2000UI, les données et l'analyse peuvent être effectuées en temps réel, ou les résultats peuvent être traités en mode hors ligne. Le logiciel embarqué peut également être consulté à distance via une interface Web, permettant aux utilisateurs d'accéder et de gérer leurs données depuis n'importe quel endroit. De plus, les résultats peuvent être facilement téléchargés dans des formats compatibles avec différents progiciels. M-2000UI est le sommet de la technologie de l'ellipsométrie et peut être utilisé pour offrir une analyse précise et précise pour tous les types d'échantillons. Ce dispositif a la capacité d'analyser et de documenter rapidement les propriétés optiques de divers matériaux, ce qui en fait un outil inestimable pour de nombreuses industries.