Occasion J.A. WOOLLAM M-88STD #293649572 à vendre en France

Le J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD est un ellipsomètre conçu pour fournir des mesures précises d'épaisseur non destructive de films aussi minces que 10 à 20 angströms d'épaisseur. L'instrument est idéal pour mesurer les caractéristiques optiques des couches minces pour des applications telles que les couches minces de nitrure, les couches antireflets et les couches médicales pour dispositifs médicaux. M-88STD est un microscope spectroscopique qui utilise les principes d'interférence optique, de réflexion et de réfraction pour mesurer les caractéristiques optiques des matériaux à couches minces. Il se compose de deux sources lumineuses laser modulées (polarisées p et s), d'un analyseur, d'un porte-échantillon et d'un photodétecteur. Un faisceau laser traverse l'échantillon et est focalisé par l'objectif microscope sous un angle d'incidence. Un échantillon peut être placé sur l'étage pour mesurer l'interférence optique. L'ellipsomètre mesure les caractéristiques optiques des couches minces en surveillant l'évolution de la polarisation au fur et à mesure du passage de la lumière à travers l'interface. La lumière est divisée en un faisceau p-polarisé et un faisceau s-polarisé, et la polarisation des faisceaux peut être ajustée à l'aide du polariseur linéaire. Le faisceau polarisé en s est renvoyé de l'échantillon vers l'analyseur et le faisceau polarisé en p continue à travers l'échantillon puis est modulé. L'intensité de la lumière détectée par le détecteur est utilisée pour calculer les caractéristiques optiques du film mince. J.A. WOOLLAM M-88STD peut mesurer diverses propriétés optiques telles que l'épaisseur optique, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction, le coefficient d'absorption, les constantes optiques et le rapport de finesse ou de contraste. L'instrument a une résolution maximale de 1 angström et une large gamme dynamique de 2 à 6 décennies pour la plupart des échantillons. Les caractéristiques optiques de l'échantillon peuvent être visualisées en temps réel sur le grand écran LCD. L'instrument est également équipé d'une gamme de fonctions d'analyse, de traitement des données et de reporting telles que : logiciel facile à utiliser, modélisation multicouche, analyse de polarisation et affichage graphique des résultats. M-88STD convient pour des applications telles que le dépôt de couches minces semi-conductrices, l'emballage microélectronique, les applications de revêtement, le dépôt chimique en phase vapeur, le revêtement plastique optique en couche mince, les écrans solaires fonctionnels en couche mince et les dispositifs de détection en couche mince. Le J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD est un instrument fiable et précis adapté à une large gamme d'applications en recherche, développement et industrie.