Occasion J.A. WOOLLAM VASE #293624629 à vendre en France

J.A. WOOLLAM VASE a été conçu et fabriqué par la Woollam Company, un leader de l'industrie de l'ellipsométrie. Le VASE breveté est un outil optique de précision conçu pour mesurer l'épaisseur et les constantes optiques de couches minces sur une variété de substrats. En utilisant un angle incident allant de 4 à 70 degrés et une précision de 0,2 degré, J.A. WOOLLAM VASE offre une précision inégalée dans ses mesures. Sa conception unique comprend une unité inférieure amovible avec le palier à air et le support d'échantillons de film qui permet de mesurer plusieurs couches minces avec une seule configuration. La tête optique comprend une enveloppe optique spécialement conçue pour réduire les erreurs de réflexion de l'air et minimiser les changements dans le trajet optique entre la lumière incidente et la lumière diffusée pour une meilleure précision. Le logiciel inclus avec l'équipement offre des fonctions intuitives qui permettent une analyse complète des fonctionnalités et une collecte rapide des données. VASE offre une précision inégalée dans les mesures d'épaisseur de couche mince et de propriétés optiques. Son logiciel de pointe permet une analyse complète et une collecte rapide de données, permettant aux chercheurs d'effectuer rapidement des tests de conformité d'échantillons en couches minces. Le système utilise un angle incident de faible dépression allant de 4 à 70 degrés réglable avec une précision de 0,2 degré. Cela permet aux utilisateurs de mesurer des films minces avec une grande précision. L'amélioration des enveloppes optiques permet également de réduire les erreurs de réflexion de l'air et de minimiser les écarts de trajectoire optique, ce qui donne des résultats plus précis. L'unité est également aidée par les systèmes de détection sophistiqués intégrés dans J.A. WOOLLAM VASE. Il s'agit notamment du contrôleur de température Peltier, du logiciel Autophobic Flatten Compensation et de la fonction de compensation automatique de modulation. Grâce à ces systèmes, les utilisateurs peuvent mesurer rapidement et avec précision des films minces de différentes constantes optiques et des films de micro-rugosité. Cela garantit des mesures précises et précises et une meilleure caractérisation des couches minces, en particulier lorsqu'elles sont utilisées en conjonction avec les logiciels avancés de la machine. VASE est un ellipsomètre polyvalent et avancé qui offre une précision sans précédent dans les mesures de couches minces. Elle est particulièrement bénéfique pour les chercheurs et les scientifiques dans les domaines de la science des matériaux, de la photovoltaïque, de l'électronique et des semi-conducteurs, ainsi que pour la détermination des matériaux optiques dépendant de la longueur d'onde. Cet outil innovant permet de mesurer l'épaisseur des couches minces et les constantes optiques d'une variété de substrats, avec une précision et une répétabilité tout simplement inégalées.