Occasion PHILLIPS SD-3400 #293625374 à vendre en France

PHILLIPS SD-3400 est un ellipsomètre conçu pour une caractérisation optique extrêmement précise et fiable des couches minces. Ce dispositif de technologie avancée est capable de mesurer l'épaisseur des couches minces et les indices de réfraction de ces couches minces. Elle le fait par la mesure Ellipsométrie, technique optique de caractérisation des propriétés optiques localisées d'un film mince. Il mesure le changement de l'état de polarisation de la lumière réfléchie de l'échantillon de couche mince lorsqu'il tourne dans son plan incident. Les mesures d'ellipsométrie fournissent des informations sur l'indice de réfraction et l'épaisseur des couches minces de ~ 10nm à ~ 20 microns. SD-3400 ellipsomètre est connu pour sa grande précision dans la mesure de l'échantillon et ne nécessite aucune préparation d'échantillon ni aucun contact avec l'échantillon. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des résultats sans avoir besoin de méthodes destructrices. Il présente également une grande sensibilité en raison de sa mesure non seulement de la couche mince, mais aussi de l'interface couche mince/substrat avec une reproductibilité exceptionnelle (> 0,1nm). L'ellipsomètre PHILLIPS SD-3400 est conçu pour des mesures rapides, précises et répétables. Ses systèmes automatisés permettent au dispositif de se déplacer rapidement entre les stations et d'obtenir rapidement des résultats avec l'interface utilisateur fournissant une opération simple et intuitive pour les utilisateurs. Le dispositif dispose également d'une large gamme de polarimètres multiples, qui permettent aux utilisateurs de prendre des mesures sous plus d'un angle incident. Cela augmente la capacité d'un utilisateur à obtenir des résultats plus précis. SD-3400 dispose également d'une technologie logicielle et matérielle intégrée qui peut aider les utilisateurs à améliorer leur analyse et la présentation des résultats des données. Il est également livré avec un système de verrouillage de charge très fiable, qui protège l'échantillon de la contamination pendant la mesure. Cette caractéristique le rend largement adopté par les industries des couches minces, telles que l'optoélectronique et les cellules solaires. Cet ellipsomètre de technologie avancée est conçu pour fournir la plus grande précision et fiabilité dans la caractérisation des couches minces, avec ses systèmes intégrés et automatisés. PHILLIPS SD-3400 est l'un des ellipsomètres les plus fiables sur le marché et est le mieux adapté pour une utilisation dans l'industrie des films minces.