Occasion PHILLIPS SD-3400 #9221001 à vendre en France

L'ellipsomètre PHILLIPS SD-3400 est un instrument spectroscopique à échantillon unique automatisé conçu pour mesurer les propriétés optiques des couches minces, telles que l'épaisseur, l'indice de réfraction et d'autres paramètres optiques. SD-3400 Ellipsomètre a un fonctionnement hautement automatisé avec une interface graphique intuitive qui permet à l'utilisateur d'entrer rapidement des paramètres, de mesurer plusieurs échantillons avec différents angles et longueurs d'onde, et de générer jusqu'à 4 courbes à la fois. L'instrument utilise une source lumineuse polarisée séquentielle et un détecteur pour mesurer avec précision les angles et les intensités de la lumière diffusée à partir des échantillons. Il dispose également d'une caméra CCD intégrée qui peut être utilisée pour la capture et l'affichage d'images. Le module de détection est situé dans la chambre de mesure pour assurer une grande précision. PHILLIPS SD-3400 Ellipsomètre peut également être utilisé pour un large éventail de recherches et d'applications industrielles, y compris le dépôt et la caractérisation en couches minces, le revêtement protecteur, les tests de performance des cellules photovoltaïques, la caractérisation des couches d'anatase, la caractérisation des dispositifs de plaquettes semi-conductrices et l'analyse des composants optiques. Il est capable de mesurer l'épaisseur, les constantes optiques (indice de réfraction, coefficient d'absorption, coefficient d'extinction, section d'absorption, etc.), la détermination de l'épaisseur absolue de la couche, les propriétés optiques des nanostructures et les paramètres ellipsométriques. Le système est conçu avec une configuration double faisceau, qui comporte un incident et un faisceau dispersé. Cette conception augmente la précision et la précision de l'optique, en particulier lorsqu'elle est utilisée en combinaison avec l'analyseur de rotation intégré. SD-3400 Ellipsomètre peut également être intégré à une variété de sources laser qui étend considérablement ses applications. Il dispose également d'un système de régulation de température en boucle fermée, nécessaire à l'étude des propriétés optiques dépendantes de la température des échantillons. L'ellipsomètre PHILLIPS SD-3400 est un outil efficace pour la caractérisation des matériaux organiques et inorganiques à couches minces. Grâce à son interface graphique facile à utiliser, l'instrument peut mesurer et analyser rapidement les propriétés optiques des échantillons, ce qui en fait un choix privilégié dans l'industrie. Il est bien adapté à la recherche et à la caractérisation des composants optiques, des revêtements de protection, des cellules photovoltaïques et des semi-conducteurs.