Occasion PLASMOS SD 2000 #293621181 à vendre en France

Fabricant
PLASMOS
Modèle
SD 2000
ID: 293621181
Automatic ellipsometer.
PLASMOS SD 2000 est un ellipsomètre, un type d'outil de caractérisation utilisé pour mesurer l'épaisseur et les propriétés optiques de couches minces multicouches sur substrats. Il mesure le changement de polarisation d'un seul laser lorsqu'il se propage à travers une couche mince et un empilement de substrat. Cette technique est non destructive et donne des résultats extrêmement précis avec une précision de 0,1-1 Å en épaisseur de couche mince et dans les limites de 0,1-2 ° en paramètres optiques. SD 2000 utilise des sources laser à faible coût et à forte puissance, un monochromateur réglable qui optimise la résolution spectrale et des détecteurs simples ou multiples. PLASMOS SD 2000 offre une large gamme spectrale opérationnelle de 350 à 1750 nm sur une ou deux longueurs d'onde laser. Ce système est équipé d'une technologie Dual Detector™ unique dans laquelle deux détecteurs, tous deux mesurant sur une seule tête de détection, mesurent la lumière réfléchie sous deux angles différents. Cela permet de mesurer simultanément des échantillons à double interface et des échantillons à trois couches. Le système offre également plusieurs modes automatiques, offrant la capacité d'analyser des échantillons épais, des échantillons à réflexion élevée et même des surfaces déformées. Le processus d'acquisition des données est extrêmement rapide, ce qui permet aux utilisateurs d'acquérir des données et de produire des résultats significatifs en une fraction du temps habituellement requis. SD 2000 propose une gamme d'outils logiciels de pointe adaptés à l'analyse d'échantillons de couches minces, y compris des logiciels dédiés à la caractérisation de divers substrats, films et couches. Il comprend un module propriétaire qui permet des mesures personnalisées des constantes optiques et des fonctions de couche. PLASMOS SD 2000 propose également des modules spéciaux pour la mesure absolue avancée de l'épaisseur et de l'indice de réfraction des couches simples et doubles. SD 2000 est conçu pour un large éventail d'applications de laboratoire et de production, y compris les revêtements optiques à couches minces, la fabrication de dispositifs semi-conducteurs, le contrôle des processus de dépôt, les matériaux d'affichage, les milieux magnétiques, et plus encore. Il convient à une variété de substrats dont le verre, la céramique, le silicium, le quartz, les matières plastiques et le papier. Sa précision, sa précision et sa polyvalence en font un outil privilégié pour le contrôle de la qualité, la recherche et le développement.
Il n'y a pas encore de critiques