Occasion PLASMOS SD 2000 #9010339 à vendre en France

Fabricant
PLASMOS
Modèle
SD 2000
ID: 9010339
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1994
Thin film thickness measurement system / automatic ellipsometer, 8" Illumination source type: HeNe laser Scanning stage: yes CPU: Vero EMV0PCIP21 8S Controller type: PC/VME Software Rev.: 6.28F External cooling: air cooled Autofocus system: Electrophysics AF-759 microscope Objective: Leitz Plan 10x/.2 CCD camera: Teli CS-8310b (2) PMS ports (1) PPZ2 port (1) PTV portPower: 230V, 50/60Hz 1994 vintage.
PLASMOS SD 2000 est un ellipsomètre automatisé commandé par ordinateur, qui est utilisé pour mesurer les matériaux de couches minces. C'est un instrument optique avancé qui utilise la lumière pour mesurer les propriétés optiques des couches minces et des composants en couches minces. L'ellipsomètre utilise la lumière polarisée pour mesurer les caractéristiques optiques d'un échantillon. La lumière est projetée sur l'échantillon, et une partie de la lumière est réfléchie sur la surface de l'échantillon. On analyse la lumière réfléchie et on mesure l'état de polarisation de la lumière. On peut ainsi obtenir des informations sur l'épaisseur du matériau, les constantes optiques et d'autres propriétés optiques de l'échantillon. SD 2000 a une large plage de fonctionnement de 350-1700 nanomètres avec une résolution maximale de 0,01 degrés, il est donc adapté pour une utilisation avec des matériaux à couches minces de très haute précision. L'ellipsomètre a une variabilité de 0,2 à 10 nanomètres sur l'épaisseur du film, et une densité d'emballage de 10 %, ce qui est utile pour étudier des couches très minces. PLASMOS SD 2000 fournit également des fonctions de programmation avancées, telles que le réglage de l'angle de l'échantillon et la polarisation de l'échantillon. Le logiciel comprend une large gamme de modèles de films standard, qui peuvent être sélectionnés pour calculer les propriétés optiques de l'échantillon. L'ensemble du fonctionnement du dispositif est automatisé et contrôlé par l'ordinateur PC, ce qui permet à l'opérateur une grande souplesse dans l'exécution des mesures. L'utilisateur peut contrôler divers paramètres tels que l'angle de polarisation, la puissance, la longueur d'onde, et plus encore. SD 2000 est idéal pour tester des matériaux en couches minces pour l'homogénéité latérale, les constantes optiques, l'absorption, le retard et l'épaisseur dans une variété d'applications, telles que les revêtements optiques, les conducteurs transparents, les épi-couches, l'optique, et bien plus encore. Grâce à ses fonctionnalités et capacités avancées, PLASMOS SD 2000 offre une grande commodité et précision pour effectuer des mesures fiables.
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