Occasion RUDOLPH AUTO EL II #293609047 à vendre en France

RUDOLPH AUTO EL II est un ellipsomètre automatisé de RUDOLPH Technologies, Inc., qui peut mesurer l'épaisseur des couches minces, les constantes optiques et la contrainte du film. Cet équipement est basé sur les principes de l'ellipsométrie polarisée de la lumière (PLE). C'est une technique optique non destructive qui permet de mesurer des couches très minces, d'épaisseur comprise entre 10 et 1000 nm, sur une gamme variée de substrats tels que des semi-conducteurs, des métaux, du verre et des polymères. AUTO EL II utilise une source lumineuse polarisée et un polariseur tournant pour générer un faisceau lumineux qui est initialement polarisé linéairement. La lumière est alors réfléchie ou transmise à travers la surface de l'échantillon et détectée par un détecteur. Le détecteur mesure l'état de polarisation et l'intensité du faisceau lumineux après avoir réfléchi ou traversé la surface de l'échantillon. On compare l'intensité et l'état de polarisation du faisceau réfléchi à l'état d'intensité et de polarisation du faisceau incident et on en déduit les paramètres ellipsométriques ψ et δ. La présence d'un film mince sur la surface de l'échantillon influe sur l'intensité et l'état de polarisation de la lumière réfléchie, par rapport à la lumière incidente. Cette information permet alors de calculer l'indice de réfraction, l'épaisseur et les constantes optiques de l'échantillon. Les avantages de RUDOLPH AUTO EL II par rapport à d'autres équipements d'ellipsométrie comprennent une précision accrue grâce à une source lumineuse LED de fréquence plus élevée, un temps de mesure plus rapide grâce à un polarimètre automatisé et une interface utilisateur innovante pour un fonctionnement facile. L'ellipsomètre est compatible avec le logiciel interactif RUDOLPH Windows, qui permet l'enregistrement, le tracé, l'exportation et le stockage des données. Ce matériel est largement utilisé à des fins industrielles, universitaires et de recherche dans de nombreuses industries telles que les semi-conducteurs, l'optoélectronique, la nanotechnologie, les sciences de la vie, la métrologie optique et les laboratoires de recherche. Il a également été utilisé dans la production et la fabrication de films minces, de revêtements et d'éléments optiques. Dans l'ensemble, AUTO EL II est un ellipsomètre avancé qui fournit une caractérisation fiable et précise du matériau optique dans diverses applications. Il utilise des performances de haute précision et maximise la vitesse et la précision de mesure. En résumé, c'est la solution pour la caractérisation des couches minces.