Occasion RUDOLPH AUTO EL III #293604275 à vendre en France

Fabricant
RUDOLPH
Modèle
AUTO EL III
ID: 293604275
Ellipsometer.
RUDOLPH AUTO EL III est un ellipsomètre haute performance entièrement automatisé de RUDOLPH Research Analytical. Cet ellipsomètre mesure à la fois l'épaisseur et l'indice de réfraction des couches minces sur une variété de substrats. Il convient aux matériaux allant des matières plastiques et optiques aux semi-conducteurs et aux films métalliques minces. Avec son étage rotatif motorisé, cet instrument permet une mesure angulaire précise pour des résultats précis. RUDOLPH AUTOEL III utilise un système d'interférométrie laser, qui élimine le besoin d'alignement manuel et permet un fonctionnement automatisé, éliminant les erreurs de l'opérateur dans la mesure des échantillons. Le dispositif présente un choix de quatre longueurs d'onde pour permettre des applications allant de la réflectance à la détermination d'épaisseurs de film de quelques nanomètres. Le laser est focalisé sur une tache de 1mm à une longueur d'onde prédéterminée, dans les spectres UV, visible et proche infrarouge, permettant une large gamme de mesures au-delà du spectre visible. Pour mesurer un échantillon, AUTO EL III établit un alignement précis de lumière incidente et réfléchie sur un grand nombre d'angles afin de générer des courbes de réflectance précises. Cela permet de mesurer avec précision l'indice de réfraction et l'épaisseur des couches minces. Les courbes mesurées sont ensuite comparées à des modèles informatiques qui décrivent la réflexion lumineuse en fonction des propriétés optiques du matériau. Cette comparaison donne l'indice de réfraction et l'épaisseur du matériau. Le logiciel permet également des tests de répétabilité qui peuvent être utilisés pour vérifier la précision de la mesure et optimiser la géométrie du réflectomètre pour un échantillon particulier. AUTOEL III est l'un des ellipsomètres les plus précis et précis sur le marché aujourd'hui. C'est un outil idéal pour mesurer des couches minces sur un large éventail d'échantillons, des substrats semi-conducteurs aux matériaux pour la recherche et l'application industrielle. Ses lasers haute performance, son étage rotatif automatisé et ses données de réflectance précises le rendent parfait pour obtenir des résultats précis dans les mesures de couches minces.
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