Occasion RUDOLPH AUTO EL III #293638655 à vendre en France

RUDOLPH AUTO EL III est un ellipsomètre de haute précision conçu pour la mesure de couches minces. Il se compose de trois composants principaux : un interféromètre laser, une source de rayonnement et un équipement de détection. L'interféromètre utilise un laser pour générer un faisceau qui est traversé par une lame demi-onde qui est tournée d'un angle θ. Le faisceau est ensuite divisé en deux faisceaux dont chacun est réfléchi séparément de deux surfaces de l'échantillon. En faisant tourner la lame demi-onde selon des angles particuliers, les faisceaux réfléchis émergent de l'échantillon dans des directions différentes. La source de rayonnement est chargée de fournir une longueur d'onde de lumière spécifiée pour l'interprétation. Le système de détection utilise une combinaison de photo-multiplicateurs et de filtres pour détecter les changements d'intensité des deux faisceaux réfléchis. RUDOLPH AUTOEL III est un outil très avancé pour mesurer les couches minces. Il est conçu pour une précision et une précision maximales, avec une résolution de 1 µm pour chaque mesure. Il est capable de mesurer diverses propriétés optiques telles que l'épaisseur, l'indice de réfraction, le coefficient d'extinction et le coefficient d'absorption du film mince. Cela permet des mesures rapides et précises des propriétés du film, sans nécessité d'une analyse spectroscopique ou chimique compliquée. L'unité est contrôlée par une interface utilisateur graphique (interface graphique) très conviviale. AUTO EL III peut être utilisé pour analyser des revêtements, des couches minces et des monocouches auto-assemblées, ainsi que des substrats semi-conducteurs. Il est idéal pour la recherche sur la caractérisation et le développement de films minces. Il peut également être utilisé pour analyser des paramètres de croissance de couches minces, mesurer des couches minces et ultrathines et obtenir des données de réflexion et d'absorption de structures multicouches. En résumé, AUTOEL III est un ellipsomètre de haute précision conçu pour la mesure de couches minces. Il dispose d'un interféromètre, d'une source de rayonnement et d'une machine de détection, et est capable de mesurer avec précision les couches minces en fonction de leurs propriétés optiques. Cet instrument polyvalent est bien adapté à la caractérisation et au développement de films minces et peut être utilisé à diverses fins de recherche.