Occasion RUDOLPH AUTO EL IV #83913 à vendre en France

RUDOLPH AUTO EL IV est un instrument optique utilisé pour mesurer l'épaisseur des couches minces et d'autres propriétés optiques. Elle utilise la technique ellipsométrique, qui est une méthode non destructive de mesure de l'épaisseur, des constantes optiques et des indices de réfraction des matériaux à couches minces. Il s'agit d'un système automatisé qui utilise une source lumineuse polarisée à faible angle, un polariseur, un analyseur rotatif de haute précision et un détecteur. La source lumineuse est focalisée à travers la station de polarisation où la lumière est polarisée aléatoirement. La station d'analyse est alors utilisée pour sélectionner la réponse de polarisation souhaitée de la surface de l'échantillon par sa rotation et verrouiller l'orientation désirée. La lumière polarisée à travers l'analyseur pénètre alors sur la surface de l'échantillon et est renvoyée au détecteur. Le détecteur mesure alors l'intensité de la lumière réfléchie et l'angle de rotation de l'analyseur pour déterminer les paramètres. RUDOLPH AUTOEL IV offre un large éventail d'avantages, tels que l'analyse comportementale rapide et précise des surfaces de couches minces en temps réel. Il peut aider à choisir des conformations de dépôt quasi optimales ou à évaluer les modifications des propriétés optiques des matériaux exposés à la température, à la lumière ou aux stimuli électriques. De plus, le détecteur compense automatiquement les erreurs dues à l'influence des dérives en température ou en intensité de la source lumineuse. En outre, l'instrument est équipé du logiciel qui supporte simultanément de multiples protocoles, y compris des mesures de contraste et des mesures d'angle Brewster, assurant un haut degré de précision et de répétabilité. Le logiciel offre également des capacités avancées d'automatisation et de traitement des données et permet d'étalonner les propriétés optiques telles que la réfraction, l'absorption et les valeurs colorimétriques. AUTO EL IV peut être utilisé pour diverses applications, y compris l'analyse optique en couches minces, l'analyse de surface des matériaux, le diagnostic optique et les mesures de référence. Elle est particulièrement adaptée à l'utilisation en science des matériaux où la caractérisation en couches minces est demandée dans diverses expériences. L'instrument est devenu la norme de l'industrie pour la caractérisation précise des couches minces en raison de sa vitesse, précision et fiabilité.