Occasion RUDOLPH AUTO EL #9225841 à vendre en France

RUDOLPH AUTO EL est un ellipsomètre qui mesure l'indice de réfraction et l'épaisseur des couches minces des matériaux semi-conducteurs et optiques avec une précision et une répétabilité exceptionnelles. L'ellipsomètre est conçu pour les laboratoires de recherche, les universités et les installations de production qui exigent des résultats très fiables et précis. Son interface logicielle intuitive, son imagerie haute résolution et son étalonnage automatique rendent le fonctionnement rapide et simple. L'ellipsomètre est un ellipsomètre spectroscopique à angle variable pour la mesure des caractéristiques optiques des couches minces, avec une option IR intégrée pour des applications plus exigeantes. Il mesure à la fois les spectres s et p polarisés simultanément dans n'importe quelle combinaison d'angles, donnant l'épaisseur évaluative et les constantes optiques. La technologie brevetée des tourbillons à angle variable réduit les imperfections dues à l'instabilité des angles et aux tourbillons, ce qui permet de mesurer des échantillons avec des structures multicouches et une rotation optique élevée. L'ellipsomètre peut mesurer des échantillons de n'importe quelle taille ou forme grâce à un étage d'échantillonnage personnalisable, et il dispose d'une source laser 532 nm et en option 633 nm pour un éclairage propre des échantillons réfléchissants de lumière. L'étape d'échantillonnage à pédale garantit que l'échantillon n'est exposé que dans la position souhaitée, et un écran tactile de 5 pouces offre une plate-forme interactive généreuse pour le contrôle du système. Cinq modes de mesure différents, y compris la mesure d'intensité, la mesure de phase, la mesure multi-angles, la mesure de phase à un seul point et la mesure d'épaisseur, offrent une flexibilité maximale. Au cœur de l'ellipsomètre se trouve le logiciel d'analyse RUDOLPH MUSE. Combinant les opérations spectrales, de recouvrement et de données point par point, MUSE produit des résultats précis pour un large éventail de matériaux en couches minces. Il comprend également des mesures à plusieurs niveaux pour analyser des structures complexes, une inspection des données à plusieurs angles pour visualiser les informations des échantillons sur un plan de paramètres 2D ou 3D, et une imagerie multicolore pour identifier rapidement les petits changements dans l'épaisseur du film. L'ellipsomètre fournit des données très fiables qui peuvent être transférées à un logiciel de conception optique.