Occasion RUDOLPH EL III #9131119 à vendre en France
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ID: 9131119
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1979
Ellipsometer, 6"
Laser source: HeNe 632.8nm
1979 vintage.
RUDOLPH EL III est un ellipsomètre de pointe pour les mesures optiques en couches minces. Il est utilisé pour la mesure et l'analyse de couches optiques en couches minces, telles que celles que l'on trouve dans la production de dispositifs semi-conducteurs avancés, d'afficheurs optiques et d'autres composants optoélectroniques. Ellipsométrie utilise une source lumineuse de précision et un détecteur photo pour mesurer la variation de la polarisation de la lumière après qu'elle interagit avec un film mince. EL III combine les capacités de mesure avancées d'un réflectomètre polarisé haut de gamme avec le puissant logiciel de contrôle et d'analyse d'un ellipsomètre pour fournir aux chercheurs et aux ingénieurs une précision et une précision inégalées. RUDOLPH EL III dispose d'un système de mesure automatisé avancé, qui ajuste avec précision la longueur d'onde de la lumière source et les angles de polarisation pour un échantillonnage optimal des couches minces. Ce puissant système fournit également un module d'étalonnage pour éliminer efficacement les dérives d'instruments et assurer la précision sur une variété d'échantillons. EL III offre également une gamme de capacités de balayage environnemental, y compris le contrôle de la température et de l'humidité, qui le rendent parfait pour les mesures autonomes. En plus de ses remarquables capacités de mesure, RUDOLPH EL III offre également une variété d'options d'analyse puissantes. Son dernier logiciel compatible Windows est utilisé pour interpréter les données d'échantillons en appliquant une gamme d'algorithmes sophistiqués aux données collectées pour générer une variété de paramètres utiles, tels que les constantes optiques, les indices de réfraction, les coefficients d'absorption et l'épaisseur du film. En outre, les données peuvent être produites directement sous forme de texte ou de graphiques pour être comparées aux normes du Comité des normes ellipsométriques (ESC). Enfin, EL III est conçu en fonction de l'utilisateur, ce qui facilite les mesures de couches minces. Une interface graphique intuitive fait de l'installation et du fonctionnement de RUDOLPH EL III une brise, et une sélection d'assistants et de tutoriels utiles permet à même les nouveaux utilisateurs d'apprendre rapidement le fonctionnement de l'instrument. EL III embarque également une gamme d'accessoires utiles, tels que des étages d'échantillons semi-automatiques et des porte-échantillons de référence, pour rendre la mesure et l'analyse optiques de couches minces encore plus facile et réussie.
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