Occasion RUDOLPH FE 7 #9147691 à vendre en France

RUDOLPH FE 7 est un ellipsomètre optique capable d'ellipsométrie polarimétrique spectroscopique. Il est alimenté par une lampe à arc Xénon et dispose d'un porte-échantillon à angle variable qui permet de mesurer séparément la lumière polarisée en s et p de 0 ° à 70 ° angle incident. L'instrument est équipé d'un détecteur CCD 12 bits et peut mesurer 16 longueurs d'onde simultanément. Son logiciel Lambda Advanced permet de caractériser des films minces de 2nm à 20 μ m de la gamme UV-Vis-NIR de 290nm à 1700nm. RUDOLPH FE-7 fournit des mesures de précision pour un large éventail d'applications telles que : L'analyse de la réflectivité et de la transmittance des échantillons multicouches tels que les films semi-conducteurs, les revêtements et les matériaux dichroïques. Information sur le déphasage et l'absorption des couches minces. Mesures d'échantillons homogènes et inhomogènes. Analyse et caractérisation des interfaces enterrées, des surfaces rugueuses, des surfaces lisses et des couches minces. Index réfringent et mesures d'épaisseur pour les échantillons jusqu'à 50 μm dans l'épaisseur. La combinaison d'un étage motorisé en 20 étapes, d'un détecteur CCD et de filtres calibrés fait de FE 7 un excellent outil de recherche avec la plus grande précision polarimétrique sur le marché. La facilité d'utilisation est également l'une des principales fonctionnalités avec une interface graphique utilisateur intuitive (interface graphique). L'interface graphique intuitive permet à l'utilisateur de configurer rapidement ses paramètres de mesure, de calibrer le système et de recueillir des données. En outre, la fonction d'optimisation automatique minimise le temps passé sur les configurations et les mesures, tandis que la fonction de script simplifie les expériences en cours et les expériences avec de grands ensembles d'échantillons. Enfin, FE-7 offre des résultats fiables avec des mesures répétables. Il a également une taille de tache laser réglable qui est idéal pour les petits échantillons, tels que les substrats semi-conducteurs. Avec ces caractéristiques, RUDOLPH FE 7 est un instrument idéal pour l'analyse de la caractérisation de la lumière polarisée et des couches minces.