Occasion RUDOLPH FE III #293655511 à vendre en France

RUDOLPH FE III est un ellipsomètre conçu pour les tâches de caractérisation de couches minces et d'analyse de courbe de basculement. Il est équipé d'un interféromètre RUDOLPH FE Nomarski pas à pas, et est capable de mesurer avec précision des films extrêmement fins sur une variété de matériaux. La source d'illumination brillante et de terrain incohérente linéaire circumferentially-déplacée de l'ellipsometer permet des mesures de l'angle d'incidence de 4-85 ° avec une grandeur de tache de μm 20-100. Ces mesures fournissent des informations sur l'épaisseur des films, l'anisotropie optique et d'autres paramètres. Les composants de l'équipement RUDOLPH FEIII comprennent une tête optique, un PC avec écran tactile, une unité de rotation de l'échantillon, une alimentation électrique, un système de vide à distance et un étage d'échantillonnage. La tête optique assure les fonctions de mesure d'angle, de formation d'image et d'affichage, et accepte une variété d'accessoires interchangeables. Son optique utilise la lumière monochromatique d'un laser de néon d'hélium avec une longueur d'onde de 0,6328 μm et inclut un rayon splitter, une lentille objective, un photodétecteur et plusieurs autres composantes optiques. Le PC est capable de commander la tête optique, ainsi que de stocker des données de mesure. Il permet également le fonctionnement à distance via une interface de navigateur web, ce qui le rend adapté pour les applications de terrain et le fonctionnement à distance à partir d'un autre PC ou tablette. Le logiciel intégré Zenith ProcessingⓇ fournit une caractérisation de film en direct à partir d'une seule mesure ainsi que des courbes de basculement à haute résolution avec la grande qualité de données attendue de ce modèle. L'unité de rotation de l'échantillon peut faire tourner des échantillons jusqu'à 40 000 rotations par minute, ce qui est nécessaire pour acquérir des courbes de basculement à haute résolution spectrale. L'unité à vide à distance est utilisée pour la préparation d'échantillons à basse énergie et est également équipée d'un microscope LED, qui peut être utilisé comme une machine d'alignement. FE-III est également équipé d'un moteur pas à pas et d'une vis à billes de précision pour déplacer l'étage de l'échantillon sur une plage allant jusqu'à 100 μ m. Cela permet une analyse précise des échantillons à couches multiples. De plus, la température, la pression et l'humidité de l'échantillon peuvent être contrôlées pour une caractérisation précise. Dans l'ensemble, FEIII est un ellipsomètre avancé et fiable bien adapté pour mesurer les paramètres des couches minces. Son optique avancée, son étage d'échantillons de précision et son logiciel facile à utiliser le rendent idéal pour diverses tâches d'analyse d'échantillons.