Occasion RUDOLPH FE III #9187409 à vendre en France

RUDOLPH FE III est un Ellipsomètre compact et complet avec une haute précision et une réflectométrie de lumière froide. Il est spécialement conçu pour la recherche et le développement dans la caractérisation des couches minces et des surfaces. L'équipement utilise une interface logicielle simple et conviviale pour configurer tous les paramètres de mesure et traiter une grande variété d'échantillons. RUDOLPH FEIII Ellipsomètre se compose d'une source d'éclairage, d'un système optique, d'une interface utilisateur et d'un logiciel d'analyse. La source d'éclairage est une source de lumière presque incohérente avec une fente fournissant une longueur d'onde continue. L'unité optique comprend une source lumineuse blanche ou monochromatique, un prisme polarisant, un compensateur, un élément de mesure et un récepteur optique. Le récepteur optique est constitué d'une caméra CCD située à l'arrière d'un objectif de microscope. La machine optique est conçue pour mesurer les constantes optiques extraordinaires et ordinaires des couches minces et des surfaces. L'interface utilisateur est simple et intuitive. Il permet un ajustement précis des angles de l'échantillon et d'autres paramètres. Les données peuvent être stockées pour une analyse plus approfondie et une représentation graphique des données. Le logiciel inclus avec l'ellipsomètre FE-III fournit des calculs de paramètres physiques tels que les indices de réfraction, les coefficients d'extinction, les constantes optiques et l'épaisseur des matériaux. Il offre également des fonctionnalités avancées telles que l'analyse de points de mesure multiples, les mesures spectrales, les mesures de dispersion et les variations angulaires pour capturer les dépendances de polarisation. Les principaux avantages de l'ellipsomètre RUDOLPH FE-III sont sa configuration monoplace de mesure rapide et précise et sa facilité d'utilisation du logiciel. L'outil est idéal pour caractériser les propriétés de surface et de couches minces pour des applications industrielles et orientées vers la recherche. Il fournira aux utilisateurs tous les outils dont ils ont besoin pour effectuer des mesures précises des propriétés optiques et caractériser avec précision les propriétés de leur échantillon.