Occasion RUDOLPH FE IIID #293604305 à vendre en France

Un ellipsomètre RUDOLPH FE IIID est un dispositif de métrologie optique très avancé qui utilise les principes de polarisation et d'ellipsométrie pour mesurer les propriétés optiques des surfaces. Il mesure l'épaisseur des couches minces et les paramètres de surface, et fournit des commentaires sur les caractéristiques physiques des couches minces sur une grande variété de substrats. RUDOLPH FE-IIID Ellipsomètre est conçu avec une variété de fonctionnalités et de capacités, ce qui en fait un choix idéal pour des mesures optiques exigeantes. FE III D Ellipsomètre utilise une géométrie d'angle fixe et variable, qui fournit des mesures précises et une caractérisation fiable des propriétés des couches minces. Cette technologie de pointe permet des mesures en ligne et en laboratoire, éliminant la nécessité de modifier manuellement l'angle d'incidence. Sa plage d'angle variable de 30-85 ° permet de mesurer des couches minces avec un angle d'incidence variable sur le même échantillon. De plus, l'ellipsomètre FE IIID possède un détecteur polarisé très sensible. Cette caractéristique unique permet l'acquisition de paramètres ellipsométriques dépendants angulaires (i.e. amplitude, phase). Le détecteur présente également une résolution en longueur d'onde et une précision de détection supérieures, ce qui le rend idéal pour mesurer les propriétés des couches minces et des surfaces. FE-IIID Ellipsometer est livré avec le logiciel SEAR pour une expérience utilisateur simple. SEAR est une interface conviviale qui comprend une gamme complète de fonctions d'analyse telles que la modélisation de couches (modélisation de couches minces sur le dessus d'un substrat), la modélisation d'empilement (modélisation de piles complexes de couches minces), et la graphie de paramètres mesurés. Le logiciel est une plate-forme intuitive qui permet une configuration de mesure facile et offre des capacités d'analyse de données complètes. RUDOLPH FE III D Ellipsomètre dispose également de plusieurs fonctionnalités matérielles conçues pour des applications avancées d'ellipsométrie. Il est équipé d'un moteur télécommandé qui facilite la rotation du détecteur à cristaux liquides à grande vitesse (HSLC) compensé. Ceci permet les mesures dépendantes de l'angle fournissant des informations sur la dépendance angulaire de l'échantillon. De plus, le dispositif est équipé d'un étage d'échantillonnage mécanisé pour la commodité et la facilité de positionnement de l'échantillon. Il est également livré avec un changement d'échantillon simplifié pour accélérer davantage les changements d'échantillon. RUDOLPH FE III/D Ellipsomètre est un excellent choix pour la métrologie optique de précision. Ses caractéristiques puissantes en font un appareil idéal pour les applications impliquant la caractérisation des couches minces et la mesure des propriétés optiques. Avec son logiciel SEAR convivial, sa technologie de pointe et ses nombreuses fonctionnalités, FE III/D Ellipsomètre fournit des mesures et une caractérisation fiables et précises des couches minces et des surfaces.