Occasion RUDOLPH FE IIID #9139658 à vendre en France

RUDOLPH FE IIID
Fabricant
RUDOLPH
Modèle
FE IIID
ID: 9139658
Taille de la plaquette: 6"
Dual wave auto ellipsometer, 6".
RUDOLPH FE IIID est un ellipsomètre utilisé pour mesurer l'épaisseur physique et les propriétés optiques des couches minces. Il fonctionne en brillant la lumière polarisée sur un échantillon puis en mesurant l'intensité résultante et les changements de polarisation. Les données obtenues peuvent être utilisées pour déterminer l'épaisseur et les constantes optiques (indices de réfraction et coefficients d'absorption) des matériaux à couches minces. RUDOLPH FE-IIID utilise une caméra CCD avec sept bandes de filtres optiques très sensibles allant de 350 à 2800 nanomètres afin de mesurer et d'analyser avec précision les surfaces des échantillons. En combinant les informations angulaires mesurées par la caméra CCD avec les données d'intensité fournies par un laser hélium-néon visible, FE III D peut obtenir des mesures en plusieurs points jusqu'à un demi-millimètre d'intervalle. En plus d'être un outil utile pour la recherche interne, FE-IIID est capable d'obtenir des données fiables à des fins de contrôle de la qualité. Par exemple, les fabricants de semi-conducteurs doivent souvent mesurer l'épaisseur précise des couches minces pour le contrôle des produits. Les données générées par FE III/D sont très fiables lorsqu'il s'agit de mesurer les dépôts de couches minces et leurs constantes optiques associées. En raison de son extrême précision et de sa durabilité, RUDOLPH FE III D est devenu un choix fréquent pour les laboratoires et les installations de production qui exigent des mesures rapides, précises et fiables des matériaux en couches minces. grâce à son système avancé d'acquisition et d'analyse des données, RUDOLPH FE III/D est en mesure de fournir aux chercheurs les résultats exacts dont ils ont besoin. FE IIID est un système flexible, facile à utiliser et fiable pour obtenir des mesures de précision des échantillons de couches minces. Sa grande précision et sa répétabilité en font l'outil parfait pour obtenir des informations complètes sur les matériaux à couches minces. Ces informations sont précieuses pour le contrôle de la qualité et la recherche.
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