Occasion RUDOLPH FE IIID #9296247 à vendre en France

RUDOLPH FE IIID
Fabricant
RUDOLPH
Modèle
FE IIID
ID: 9296247
Wafer thickness measurement system.
RUDOLPH FE IIID est un ellipsomètre spectroscopique avancé conçu pour mesurer les couches minces et effectuer des caractérisations automatisées des matériaux. Il fonctionne sur le principe de l'ellipsométrie, où la lumière est utilisée pour déterminer les propriétés physiques d'un matériau, le plus souvent l'épaisseur et les indices de réfraction. RUDOLPH FE-IIID est équipé d'un laser HeNe, capable de délivrer de la lumière avec une longueur d'onde de 633nm, et peut mesurer une large gamme d'épaisseurs, de plusieurs nanomètres à plusieurs centaines de nanomètres. L'ellipsomètre est composé de composants optiques, tels que polariseurs, palpeurs et compensateurs, qui utilisent la lumière polarisée de la source laser pour mesurer avec précision les propriétés optiques d'un film mince ou d'un revêtement. L'instrument se compose de plusieurs divisions, qui comprennent l'étape de l'échantillon, la tête de l'ellipsomètre et la section de contrôle. L'étage d'échantillonnage est utilisé pour maintenir et positionner le film mince, tandis que la tête d'ellipsomètre se compose d'une série d'optiques et d'accessoires qui mesurent avec précision les propriétés du film mince. La section de contrôle abrite les cartes de puissance et de communication, qui permettent à l'utilisateur de contrôler les réglages et d'ajuster les paramètres de l'instrument. FE III D offre une gamme de caractéristiques puissantes, ce qui le rend capable de mesurer les composants et les matériaux avec une grande précision et précision. Il a des composants optiques très sensibles, ainsi qu'une large gamme de mesures qui permet des caractérisations automatisées des matériaux. L'instrument est équipé d'une fonction de télécommande qui permet à l'utilisateur d'ajuster les réglages et de modifier les paramètres sans avoir à entrer en contact avec l'instrument. De plus, l'unité peut mesurer simultanément les deux côtés d'un échantillon, en fournissant un seul ensemble de mesures. Toutes les mesures effectuées avec FE-IIID sont considérées comme très précises et fiables, ce qui les rend idéales pour les laboratoires à la recherche de résultats précis et reproductibles. Un logiciel puissant est inclus avec l'unité, permettant une analyse et un stockage faciles des données. L'instrument est également compatible avec la plupart des systèmes de microscopes, ce qui le rend parfait pour examiner et caractériser des films extrêmement minces et de petites structures. En conclusion, FE III/D est un ellipsomètre spectroscopique avancé qui fournit des mesures très précises et fiables des couches minces et des revêtements. Équipé d'une gamme de fonctions puissantes, de caractérisations automatisées et d'une télécommande, cet instrument est idéal pour les laboratoires à la recherche de mesures scientifiques très précises.
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