Occasion RUDOLPH FE IV #293637499 à vendre en France

Fabricant
RUDOLPH
Modèle
FE IV
ID: 293637499
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Thickness measurement system, 8" Process capability: 11µm, 13µm, 15µm, 18µm, 25µm, 35µm Load lock PC Board Computer Main body Power supply: 1500W, 100 VAC, 50 / 60 Hz 1995 vintage.
RUDOLPH FE IV est un ellipsomètre qui peut être utilisé pour mesurer les propriétés physiques et chimiques des couches minces. C'est l'un des ellipsomètres les plus avancés et les plus fiables disponibles sur le marché aujourd'hui. RUDOLPH FE-IV a deux composantes principales : une source lumineuse et un interféromètre. La source lumineuse est un laser qui émet de la lumière à des longueurs d'onde spécifiques. La lumière laser est ensuite divisée par deux jeux de miroirs avant d'être dirigée sur la surface de l'échantillon étudié. Lorsque la lumière interagit avec la surface, elle est réfléchie en arrière et son état de polarisation est enregistré. La deuxième composante de FE IV est l'interféromètre. C'est ce qui mesure les changements dans l'état de polarisation de la lumière. FE-IV est livré avec un certain nombre de types d'interféromètres, qui sont tous conçus pour mesurer les changements dans la polarisation de la lumière à différents angles et différentes longueurs d'onde. Ces mesures permettent ensuite de calculer les propriétés optiques du film mince étudié, ainsi que son épaisseur et sa composition physique. RUDOLPH FE IV a un certain nombre de caractéristiques qui le rendent particulièrement attrayant pour les scientifiques. Il a une haute résolution, ce qui est nécessaire pour effectuer des mesures précises. Il est également capable de mesurer des échantillons sous une large gamme d'angles et de longueurs d'onde en un seul balayage. De plus, il a la capacité de mesurer simultanément l'indice de réfraction et les constantes optiques. Ces qualités font de RUDOLPH FE-IV un outil idéal pour une gamme de projets de recherche et d'applications. Dans l'ensemble, FE IV est un ellipsomètre innovant et fiable qui peut être utilisé pour mesurer les propriétés physiques et chimiques des couches minces. Sa combinaison de haute résolution, vitesse et précision en font un excellent choix pour la recherche scientifique dans des domaines tels que la physique, la chimie, la science des matériaux et la nanotechnologie. De plus, sa variabilité et sa gamme de modes de mesure permettent de l'utiliser pour de nombreux projets différents.
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