Occasion RUDOLPH FE IV #9271610 à vendre en France

RUDOLPH FE IV est un ellipsomètre avancé conçu par RUDOLPH Technologies, Inc. C'est un outil d'analyse puissant conçu pour mesurer les propriétés optiques des matériaux tels que les couches minces et les petites particules. L'instrument est équipé d'une gamme de caractéristiques sophistiquées, dont une chambre d'échantillonnage unique et de grande surface pour les mesures à grande vitesse et un équipement d'entraînement piloté par ordinateur qui permet un balayage rapide des échantillons. L'instrument est composé d'un système optique avec une plage de longueurs d'onde de 350 à 1650 nm, d'un étage d'échantillonnage et d'une unité d'entraînement à haute vitesse pilotée par ordinateur. Un faisceau lumineux unique, typiquement issu d'une source lumineuse au xénon, est incorporé dans la machine optique et dirigé sur l'étage d'échantillonnage où il est transformé en onde incidente et en onde réfléchie polarisée. L'onde réfléchie est alors détectée par une caméra CCD, et l'angle de polarisation est mesuré. L'outil de détection convertit les informations détectées en une carte d'intensité et de phase qui sert au calcul des éléments de la matrice de Mueller. Cette matrice est générée dans un format 2x2 ou 4x4, selon le modèle de l'ellipsomètre, et sert à calculer les paramètres optiques de l'échantillon. Les données acquises peuvent ensuite être analysées et manipulées à l'aide de logiciels spécialisés tels que le logiciel RUDOLPH EllipsWerks. En utilisant l'ellipsomètre RUDOLPH FE-IV, les utilisateurs peuvent mesurer avec précision les effets de la diffusion de la lumière sur les matériaux, tels que la réflectance totale, le coefficient d'extinction, l'absorption optique, l'indice de réfraction, l'épaisseur du revêtement et l'anisotropie optique. La grande chambre d'échantillonnage permet également de mesurer rapidement la topographie et la contrainte du film. En outre, l'instrument peut être utilisé pour mesurer les propriétés d'échantillons non transparents tels que les points métalliques, ce qui le rend adapté à une gamme d'applications de recherche dans une variété d'industries. De plus, l'instrument se caractérise par un fonctionnement simple et une participation minimale des utilisateurs, ce qui leur permet de mesurer rapidement et avec précision une variété d'échantillons avec une formation minimale. Sa grande précision, sa facilité d'utilisation et sa gamme de caractéristiques font de l'ellipsomètre FE IV un outil puissant pour la recherche et la fabrication.